TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan A1 - Radnik, Jörg T1 - Minimale Anforderungen an Referenzdaten anhand von Beispielen aus der Elektronenmikroskopie und Oberflächenanalytik N2 - In dem Vortrag werden, anhand ausgewählten Beispielen aus der Elektronenmikroskopie und Oberflächenanalytik (EDX und XPS), die minimalen Anforderungen an Referenzdaten für zuverlässige und reproduzierbare Ergebnisse (z.B. Partikelgrößenverteilung, Elementzusammensetzung) vorgestellt und diskutiert. T2 - Workshop "Referenzdaten" CY - Berlin, Germany DA - 13.03.2020 KW - Referenzdaten KW - Nanopartikel KW - Elektronenmikroskopie KW - Oberflächenanalytik KW - Standardarbeitsanweisung KW - SOP KW - Standardisierung PY - 2020 AN - OPUS4-50571 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Steinhoff, U. A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan T1 - EMPIR Erläuterung der Fördermaßnahme und Beispiele aus der Nanotechnologie N2 - Das EMPIR-Förderprogramm wird kurz erläutert und laufende Projekte aus der Nanotechnologie werden vorgestellt. Der Schwerpunkt liegt auf Standardisierungsprojekten, die gemeinsam mit ISO/TC 229 'Nanotechnologies' und CEN/TC 352 'Nanotechnologies' zu neuen Normen führen sollten. Als Beispiel für laufende Nanotechnologie-Projekte mit Koordination aus Deutschland werden MagNaStand (PTB) und nPSize (BAM) gegeben. T2 - Treffen des Normungsausschusses NA 062-08-17 AA Nanotechnologien CY - KIT, Karlsruhe, Germany DA - 07.03.2019 KW - EMPIR KW - Nanoparticles KW - Reference materials KW - Particle size distribution KW - Traceability KW - Standardisation PY - 2019 AN - OPUS4-47859 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan T1 - Nanoanalytik-Aktivitäten @ BAM N2 - In dieser Präsentation werden Aktivitäten im Bereich der 'nano'-Charakterisierung bei der BAM vorgestellt. Beispiele von F&E-Projekten und -Kooperationen im nano-Analytik-Bereich bei der BAM werden genannt. Thematische Kooperations-Möglichkeiten zwischen BAM und dem Netzwerk NanoAnalytik und -Messtechnik in der Produktion werden diskutiert. T2 - Treffen des Netzwerkes NanoAnalytik und -Messtechnik CY - Berlin, Germany DA - 06.11.2018 KW - Nanoanalytik KW - Nano-Projekte KW - Nano-Kompetenzzentrum KW - Nano-Charakterisierung PY - 2018 UR - https://www.nanoinitiative-bayern.de/nanoanalytik/ AN - OPUS4-46563 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan T1 - EMPIR nPSize - improved traceability chain of nanoparticle size measurements - Is a liaison to CEN/TC 352 nanotechnologies useful? N2 - The main objectives of the new EMPIR project nPSize are to establish EU capability of traceable measurement of NP size and shape, lower uncertainties of NP size measurement by developement of new nano-CRMs, new models (physical and machine learning), 3D method combination, and also by new ISO and CEN standards on accurate NP size measurement and guidance and knowledge transfer. The envisaged outcomes of the project will be presented and their suitability will be discussed to be taken over as pertinent contributions to normative projects within CEN/TC 352 Nanotechnologies. T2 - Joint Working Groups and 24th CEN/TC 352 Nanotechnologies Meetings CY - DIN, Berlin, Germany DA - 09.10.2018 KW - Nanoparticles KW - Size KW - Particle size distribution KW - Particle shape KW - Traceability KW - Standardisation KW - CEN/TC 352 Nanotechnologies PY - 2018 AN - OPUS4-46252 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan T1 - Measurement of nanoparticle size and shape distribution – Current situation and outlook N2 - The EC Recommendation on the definition of nanomaterial, based solely on size of the constituent particles, foresees development of harmonised measurement methods ensuring ‘consistent results across materials and over time’. The EU/FP7 research project NanoDefine has been exclusively dedicated to support the implementation of this EC Recommendation for the European Union’s legislation. For the first time, measurement techniques able to determine the size of nanoparticles have been evaluated systematically on a well-defined set of quality control materials (spherical, monodisperse) as well as industrial materials of complex shapes and considerable polydispersity. Particularly based on the analytical performance of the measurement techniques as tested on the challenging real-world particulate materials, it was possible to formulate recommendations for use of a new tiered approach consisting of screening and confirmatory techniques. Thus, a consistent framework of guidance for nanomaterial identification according to the EC Definition has been issued in form of the NanoDefiner e-tool, with a transparent decision flow scheme and an extensive user manual. Selected examples of analysis and classification as nano-/non-nanomaterials will be given, highlighting the limits of applicability of the available measurement techniques in dependence on sample properties. On some recent relevant developments in sample preparation – as a crucial part for an accurate analysis - will be also reported. Further, ISO/TC 229 ‘Nanotechnologies’ activities aiming at establishing accurate TEM and SEM measurement of NP size and shape as robust, traceable, standard procedures are highlighted. With participation of BAM, study groups have been organizing inter-laboratory comparisons on well-selected NP systems according to the market needs, such as aggregated or shape-controlled titania nano-powder for which size and shape distribution of primary particles must be measured accurately. T2 - Symposium Preparation, Characterization and Processing of Nano and Submicron Powders CY - Berlin, Germany DA - 14.06.2018 KW - Nanoparticles KW - Nanomaterial KW - EC definition KW - Nanoparticle size distribution PY - 2018 AN - OPUS4-45191 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan T1 - Aktivitäten der BAM im EU-Projekt NanoDefine N2 - Die Präsentation gibt einen Überblick über die Aktivitäten der BAM im EU-Projekt 'NanoDefine'. Verknüpfungen zur Entwicklung von nano-Referenzmaterialien, ISO- und VAMAS-Aktivitäten und anderen nano-Projekten werden vorausschauend diskutiert. T2 - Expertenaustausch zum Thema ‘Nanosicherheit’ zwischen BMU, BMWi und BAM CY - Berlin, Germany DA - 01.06.2018 KW - Nanomaterial KW - ISO KW - NanoDefine KW - EU-Definition KW - Nanopartikel PY - 2018 AN - OPUS4-45078 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Hartelt, Manfred A1 - Wäsche, Rolf A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan T1 - Verschleißpartikel-Analyse mit Rasterelektronenmikroskopie und energiedispersiver Röntgenspektrometrie im Transmissionsmodus (TSEM/EDX) JF - Tribologie und Schmierungstechnik N2 - Untersucht wurden Verschleißpartikel als elektronentransparente Proben auf dünnen Trägerfolien mit einem hochauflösendem Rasterelektronenmikroskop und energiedispersiver Röntgenspektrometrie im Transmissionsmodus. Die hohe laterale Auflösung dieser modernen Methoden ermöglicht eine morphologische Charakterisierung der Verschleißpartikel bis in den nm-Bereich. Die hochauflösende Elementanalyse erlaubt eine Interpretation der Zusammensetzung und damit Rückschlüsse auf die Verschleißpartikelbildung. Die tribologischen Untersuchungen sind an einem Modell-Verschleißtribometer nach DIN 51834-2 geschmiert, aber ohne Ölkreislauf, durchgeführt worden. Die Präparation der Verschleißpartikel über eine Entnahme und Übertragung einer geringen Schmierstoffmenge mit einer Mikropipette auf eine TEM-Trägerfolie ist mit einem geringen Aufwand möglich. Der präparative Aufwand ist relativ gering. Das benötigte Schmierstoffvolumen beträgt wenige Mikroliter (0,001 ml). Die Untersuchung zeigt die geringe geometrische Größe der Verschleißpartikel und bestätigt indirekt die These der Reaktionsschichtbildung mit einer geringen Schichtdicke, die ständig verschleißt und sich stetig neu bildet. Die beschriebenen Verschleißprozesse sind in der Modell-Verschleiß-Prüfung mit sehr hohen Pressungen am Versuchsbeginn nachweisbar. KW - Modellverschleißprüfung KW - Verschleißpartikel-Analyse KW - TSEM PY - 2015 SN - 0724-3472 VL - 62 IS - 6 SP - 5 EP - 11 PB - Expert Verlag CY - Renningen AN - OPUS4-35043 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan A1 - Ortel, Erik A1 - Pellutiè, L A1 - Maurino, V. A1 - Mielke, Johannes A1 - Häusler, Ines A1 - Österle, Werner T1 - Characterization of shape-engeneered TiO2 nanoparticles by SEM/TSEM T2 - Workshop on Analytical Transmission Scanning Electron Microscopy T2 - Workshop on Analytical Transmission Scanning Electron Microscopy CY - Boulder, CO, USA DA - 2015-09-15 PY - 2015 AN - OPUS4-34711 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan A1 - Holzweber, Markus A1 - Unger, Wolfgang T1 - Ionic liquids as reference material: A "hot" candidate to check your EDS below 1 keV T2 - 16th European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis (ECASIA´15) T2 - 16th European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis (ECASIA´15) CY - Granada, Spain DA - 2015-09-28 PY - 2015 AN - OPUS4-34702 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan T1 - Charakterisierung von Nanopartikeln mit hoch-sensitiven EDX-Detektoren am REM T2 - Bruker Seminartage zur Mikroanalyse 2015 T2 - Bruker Seminartage zur Mikroanalyse 2015 CY - Berlin DA - 2015-10-14 PY - 2015 AN - OPUS4-34680 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -