TY - CONF A1 - Matschat, Ralf A1 - Czerwensky, Michael A1 - Lange, Britta A1 - Kipphardt, Heinrich T1 - High Purity Metals used as Primary Pure Calibration Materials: State of Development and Multielement Trace Determination in Zinc and Gold by HR ICP-MS T2 - 11th International Conference on Ultra-High Purity Base Metals, NIST (National Institute of Standards and Technology) CY - Gaithersburg, MD, USA DA - 2004-12-06 PY - 2004 AN - OPUS4-4630 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Smith, D. T. A1 - Hurley, D. C. A1 - Griepentrog, Michael A1 - Beck, Uwe A1 - Sasaki, S. A1 - Ogisi, H. T1 - Evaluation of Mechanical Properties in the Nanometer Range T2 - HARDMEKO 2004 CY - Washington, D.C., USA DA - 2004-11-11 PY - 2004 AN - OPUS4-4629 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Goering, Harald A1 - Krüger, Simone A1 - Fritsch, Sebastian A1 - Stark, Wolfgang A1 - Kelm, Jürgen A1 - Opfermann, J. T1 - Kinetische Modellierung der Kautschukvilkanisation anhand von DSC- und DMA-Messungen T2 - GEFTA 2003 Thermische Analyse und Kalorimetrie CY - Augsburg, Germany DA - 2003-09-15 PY - 2003 AN - OPUS4-4627 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Goering, Harald A1 - Mach, Reinhard A1 - Letzig, U. A1 - Oleszak, Franz A1 - Jancke, Harald A1 - Pohl, M.-M. A1 - Friedrich, Jörg F. A1 - Richter, K. T1 - Thermisch induzierte Morphologieänderungen von SiCN-Nanokompositen T2 - GEFTA 2003 Thermische Analyse und Kalorimetrie CY - Augsburg, Germany DA - 2003-09-15 PY - 2003 AN - OPUS4-4628 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Spaltmann, Dirk A1 - Binkowski, Sigrid A1 - Kelling, Norbert A1 - Woydt, Mathias A1 - Löhr, M. T1 - Können harte DLC-Schichten die Wälzbeständigkeit von weichen Stählen erhöhen? T2 - Tribologie-Fachtagung 2004 CY - Göttingen, Germany DA - 2004-09-27 PY - 2004 AN - OPUS4-4626 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Gajewski, Sven A1 - Friedrich, Jörg F. A1 - Kühn, Gerhard A1 - Decker, Renate A1 - Retzko, Iris A1 - Dörfel, Ilona A1 - Saliwan Neumann, Romeo A1 - Maneck, Heinz-Eberhard A1 - Knoll, Uta A1 - Neubert, Dietmar A1 - Mach, Reinhard A1 - Schomäker, R. T1 - Plasmachemical Fluorination of Single Walled Carbon Nanotubes T2 - Nanomaterials und Nanotechnologies (NN 2003) CY - Crete, Greece DA - 2003-08-30 PY - 2003 AN - OPUS4-4625 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Pinto, H. A1 - Pyzalla, A. A1 - Hasse, B. A1 - Aßmus, Kristin A1 - Hübner, Wolfgang T1 - Microstructural Changes During Friction at Cryogenic Temperatures T2 - HASYLAB Users'Meeting "Research with Synchrotron Radiation" CY - Hamburg, Germany DA - 2004-01-30 PY - 2004 AN - OPUS4-4624 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Aßmus, Kristin A1 - Hübner, Wolfgang T1 - Methods for Investigating Austenite Stability during Tribological Stressing of FeCrNi Alloys T2 - 26th European Conference on Acoustic Emission Testing (EWGAE 2004) CY - Berlin, Germany DA - 2004-09-15 PY - 2004 AN - OPUS4-4622 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Breitenbach, Martin A1 - Oberröder, Christa T1 - Die Coulometrie als absolute Methode für die Zertifizierung von Referenzmaterial T2 - Aushang im Zweiggelände Adlershof der BAM, Haus 8.15, Flur, 6.Etage CY - Berlin, Germany DA - 2004-09-24 PY - 2004 AN - OPUS4-4623 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Stein, G. A1 - Richter, K. A1 - Maneck, Heinz-Eberhard A1 - Knoll, Uta T1 - In situ XRD investigation of the CCVD Synthesis of Graphitic Nanofibers and the Adsorption/Desorption of Hydrogen T2 - E-MRS Spring Meeting CY - Strasbourg, France DA - 2003-06-10 PY - 2003 AN - OPUS4-4621 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Santner, Erich T1 - Tribologische Grundlagen T2 - VDI-Wissensforum, Moderne Schichttechnik für Konstrukteure; Reibung und Verschleiß systematisch reduzieren, Seminar 343501, Fraunhofer-Institut für Schicht- und Oberflächentechnik IST CY - Braunschweig, Germany DA - 2004-06-15 PY - 2004 AN - OPUS4-4620 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Frübing, P. A1 - Kremmer, A. A1 - Neumann, W. A1 - Guy, I. L. A1 - Goering, Harald A1 - Gerhard-Multhaupt, R. T1 - Ferroelectric and Non-Ferroelectric Contributions to Piezo- and Pyroelectricity in Polyamide 11 T2 - The 10th European Meeting on Ferroelectricity "EMF 2003" CY - Cambridge, England DA - 2003-08-03 PY - 2003 AN - OPUS4-4618 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Czerwensky, Michael A1 - Lange, Britta A1 - Matschat, Ralf A1 - Kipphardt, Heinrich T1 - Analyse von Reinstmetallen mit der Sektorfeld ICP-MS N2 - Das an der BAM für die anorganisch-chemische Analytik im Aufbau befindliche System zertifizierter primärer Kalibriernormale basiert auf umfassend charakterisierten Reinststoffen jeweils für die Belange der Analytkalibrierung (Typ A) und für die Matrixanpassung (Typ-B). Die primären Kalibriernormale ermöglichen eine metrologisch hochwertige Rückführung von Ergebnissen chemischer Messungen auf die SI-Einheiten und leisten damit einen Beitrag zur Verbesserung der Vergleichbarkeit und Richtigkeit von Analysenergebnissen. Als Basismethode für die Bestimmung der metallischen Verunreinigungen in den Reinststoffen kam die ICP-Massenspektrometrie mit einem Sektorfeld-Massenspektrometer (ICP-SFMS) vom Typ ELEMENT 1 (Thermo Finnigan GmbH, Bremen) zur Anwendung. Die Hauptvorteile der ICP-SFMS für die Reinheitscharakterisierung basieren auf ihrer hohen Nachweisstärke, dem breiten Elementspektrum, der Möglichkeit, viele spektrale Störungen aufzulösen, und einer relativ einfachen Kalibrierung mittels flüssiger Standards. Die Entwicklung des primären Kalibriersystems der BAM begann mit dem Element Kupfer, das unter Anwendung zahlreicher analytischer Methoden als primäres Material vom Typ-A mit 82 bestimmten Elementspuren inzwischen vollständig charakterisiert ist. Als weitere primäre Materialien vom Typ-A sind Eisen, Blei, Gallium, Bismut, Zinn, Wolfram, Silizium, Molybdän, Nickel, Gold und Zink sowie die reinen Verbindungen Natrium-, Kalium- und Cäsiumchlorid in Bearbeitung. Die Analyse der oben aufgeführten Matrizes mit der ICP-SFMS erfolgte ohne Abtrennung der jeweiligen Matrix. Die kompakten Materialien wurden nach Oberflächenreinigung in geeigneten hochreinen Säuren aufgelöst und mittels konventioneller Probenaufgabe bei einer Matrix-konzentration von ca. 1g/L direkt vermessen. Insgesamt wurden in den primären Materialien mit der ICP-SFMS jeweils etwa 70 Elementspuren analysiert, wobei die Bestimmungsgrenzen, bezogen auf den Feststoff, für ungestörte Isotope überwiegend im sub-mg/kg-Bereich lagen. Die matrixbedingten Signaldepressionen betrugen maximal 50 %. Die durch die jeweilige Matrix bedingten spektralen Störungen lassen sich in vielen Fällen durch Wahl einer höherer Massenauflösung am Sektorfeld-Analysator (R=3000 oder 7000) eliminieren. Aufgrund der in höherer Auflösung verringerten Transmission müssen dabei Verschlechterungen der Empfindlichkeit bezogen auf den empfindlichsten Messmodus (R=300) in Kauf genommen werden. Im Vortrag werden Ergebnisse der ICP-SFMS für die Zertifizierung ausgewählter primärer Materialien dargestellt und die Möglichkeiten der Hochauflösung an Beispielen demonstriert. T2 - 14. Jahreskolloquium der IGAS CY - Berlin, Germany DA - 2004-11-17 PY - 2004 AN - OPUS4-4619 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Fengler, Petra A1 - Stark, Wolfgang A1 - Döring, Joachim A1 - Mc Hugh, Jarlath T1 - Hidden Ultrasound Sensors in a Mouding Tool T2 - 6th Internationale AVK-Tv Conference CY - Baden-Baden, Germany DA - 2003-09-07 PY - 2003 AN - OPUS4-4617 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Santner, Erich T1 - Mutual Modification of friction and Topography T2 - NORDTRIB 2004 - 11th Nordic Symposium on Tribology CY - Tromsø, Norway DA - 2004-06-01 PY - 2004 AN - OPUS4-4616 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Schartel, Bernhard T1 - Polymer-Layered Silicate Nanocomposites: new Flame Retardant Apporoach for polymeric Materials T2 - Hannover-Messe 2003 CY - Hanover, Germany DA - 2003-04-07 PY - 2003 AN - OPUS4-4614 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Bartholmai, Matthias A1 - Schartel, Bernhard T1 - Comprehensive Fire Behaviour Assessment of Nanocomposites T2 - 9th European Meeting on Fire Retardancy and Protection of Materials, FRPM '03 CY - Lille, France DA - 2003-09-17 PY - 2003 AN - OPUS4-4615 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan A1 - Hoffmann, V. A1 - Paatsch, Wolfgang A1 - Bohne, W. A1 - Lindner, S. A1 - Röhrich, J. A1 - Strub, E. T1 - Survey on the Suitability of Coatings Containings Hydrogen as Layered CRM for GDS T2 - 2004 Winter Conference on Plasma Spectrochemistry CY - Fort Lauderdale, FL, USA DA - 2004-01-05 PY - 2004 AN - OPUS4-4613 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan T1 - µ-RFA am REM T2 - TU-Kolloquium "Ausgewählte analytische Methoden der Physik" CY - Berlin, Germany DA - 2004-01-20 PY - 2004 AN - OPUS4-4611 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Procop, Mathias A1 - Scholze, F. T1 - Synchrotron Radiation for the Characterization of Energy Dispersive X-ray Spectrometers T2 - Microscopy and Microanalysis CY - Savannah, GA, USA DA - 2004-08-02 PY - 2004 AN - OPUS4-4612 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Procop, Mathias T1 - Stand und Perspektiven der Materialanalyse mittels Röntgenspektroskopie am Rasterelektronenmikroskop T2 - Kolloquium des Zentrums für Mikro- und Nanotechnologie (ZMN) CY - Ilmenau, Germany DA - 2004-03-31 PY - 2004 AN - OPUS4-4610 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Unger, Wolfgang T1 - 1. Metrological Directions in Surface and Micro/Nano Analysis in BAM 2. OH group density at polymer surfaces T2 - CCQM Surface Analysis Working Group Meeting for 2004 CY - Sèvres, France DA - 2004-04-20 PY - 2004 AN - OPUS4-4608 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Unger, Wolfgang A1 - Wirth, Thomas T1 - N and C stoichiometry of metal nitride and carbide hard coatings T2 - CCQM Surface Analysis Working Group Meeting for 2004 CY - Sèvres, France DA - 2004-04-20 PY - 2004 AN - OPUS4-4609 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Unger, Wolfgang A1 - Procop, Mathias T1 - Standard-free quantification in EPMA T2 - CCQM Surface Analysis Working Group Meeting for 2004 CY - Sèvres, France DA - 2004-04-20 PY - 2004 AN - OPUS4-4607 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Unger, Wolfgang T1 - Das Labor für Oberflächen- und Mikrobereichsanalytik der BAM (VIII.23): Forschungsergebnisse aus den Bereichen Katalysatorentwicklung, Nanotubes und (Plasma-) Polymerschichten T2 - Kolloquium: Hahn-Meitner-Institut Berlin/Abt. SE2 c/o BESSY II CY - Berlin, Germany DA - 2004-05-06 PY - 2004 AN - OPUS4-4606 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Unger, Wolfgang A1 - Retzko, Iris A1 - Gesatzke, Wolfgang A1 - Koprinarov, Ivaylo A1 - Ade, H. A1 - Hitchcock, A. P. T1 - Scanning transmission X-ray microscopy (STXM) of h-bar preparations of chemically modified DLC films T2 - 324. Heraeus-Seminar: Exploring the nanostructures of soft materials with x-rays, Wilhelm und Else Heraeus-Stiftung CY - Bonn, Germany DA - 2004-05-09 PY - 2004 AN - OPUS4-4605 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Procop, Mathias A1 - Scholze, F. T1 - Detection efficiency of energy dispersive detectors: high accuracy measurement and modelling T2 - European Conference on X-Ray Spectrometry CY - Alghero, Italy DA - 2004-06-06 PY - 2004 AN - OPUS4-4603 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Procop, Mathias A1 - Bjeomikov, A. A1 - Langhoff, N. A1 - Arkadiev, V. A1 - Wedell, R. A1 - Eggert, F. A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan T1 - A new microfocus X-ray source iMOXS for high sensitive XRF analysis in scanning electron microscopes T2 - European Conference on X-Ray Spectrometry CY - Alghero, Italy DA - 2004-06-06 PY - 2004 AN - OPUS4-4604 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Paatsch, Wolfgang A1 - Beck, Uwe A1 - Senoner, Mathias T1 - Development of Reference Materials for Surface Technology in the Micrometer and Nanometer Range T2 - Intefinish 2004 CY - Chicago, IL, USA DA - 2004-06-29 PY - 2004 AN - OPUS4-4602 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Senoner, Mathias A1 - Wirth, Thomas A1 - Unger, Wolfgang A1 - Österle, Werner A1 - Kaiander, I. A1 - Sellin, R. A1 - Bimberg, D. T1 - Ein neuer Typ von Referenzmaterial für die Längenkalibrierung und die Bestimmung der lateralen Auflösung in der Oberflächenanalytik T2 - 13. Tagung angewandte Oberflächenanalytik (AOFA 13) CY - Dresden, Germany DA - 2004-09-14 PY - 2004 AN - OPUS4-4601 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Unger, Wolfgang T1 - Plasmapolymerschichten: Zu den Möglichkeiten einer chemischen Charakterisierung mit den Methoden ESCA, ToF-SIMS und Röntgen-Absorptions-Spektroskopie (XAS) T2 - 12. Neues Dresdner Vakuumtechnisches Kolloquium, DTV CY - Dresden, Germany DA - 2004-10-14 PY - 2004 AN - OPUS4-4599 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Unger, Wolfgang T1 - Pulsed Plasma-polymerized Films prepared from Organic Molecules: Characterization by Surface Analytical Tools T2 - KRISS Meeting - NanoSurface Group CY - Daejeon, South Korea DA - 2004-10-11 PY - 2004 AN - OPUS4-4600 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Unger, Wolfgang A1 - Swaraj, Sufal A1 - Oran, Umut A1 - Lippitz, Andreas A1 - Retzko, Iris A1 - Matsubayashi, N. T1 - Pulsed Plasma-polymerized Films Prepared from Organic Molecules: Characterization by X-ray Absorption Spectroscopy, Photoelectron Spectroscopy and Time of Flight Static Secondary Ion Mass Spectrometry T2 - Practical Surface Analysis PSA-04 & 5th Korea-Japan International Symposium on Surface Analysis - KJISSA CY - Jeju, South Korea DA - 2004-10-04 PY - 2004 AN - OPUS4-4598 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Senoner, Mathias A1 - Wirth, Thomas A1 - Unger, Wolfgang A1 - Österle, Werner A1 - Kaiander, I. A1 - Sellin, R. A1 - Bimberg, D. T1 - A new type of certified reference material for length calibration and testing of lateral resolution in the nanometre range T2 - Practical Surface Analysis PSA-04 & 5th Korea-Japan Symposium on Surface Analysis - KJISSA CY - Jeju, South Korea DA - 2004-10-04 PY - 2004 AN - OPUS4-4597 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Wolff, Timo A1 - Hahn, Oliver A1 - Kanngießer, B. A1 - Malzer, W. A1 - Wilke, M. A1 - Nekat, B. T1 - Investigation of oxidation and migration process of inorganic compounds in ink corroded manuscripts T2 - Symposium (Transition) metals in paper and preventive conservation CY - The Hague, Netherlands DA - 2004-09-17 PY - 2004 AN - OPUS4-4596 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Torge, Manfred A1 - Adam, Karin A1 - Kruschke, Detlef T1 - Naturwissenschaftliche Untersuchungen an historischen Glasmalereien T2 - Denkmal 2004, Europäische Messe für Restaurierung, Denkmalpflege und Stadterneuerung CY - Leipzig, Germany DA - 2004-10-27 PY - 2004 AN - OPUS4-4595 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Bücker, Michael A1 - Böcker, Wolfgang D. G. A1 - Reinsch, Stefan A1 - Unger, Brita T1 - Holzmodifikation durch Tränkung mit Nanopartikeln T2 - Eingeladener Vortrag auf den Rosenheimer Fenstertagen 2004 CY - Rosenheim, Germany DA - 2004-10-14 PY - 2004 AN - OPUS4-4594 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Torge, Manfred A1 - Adam, Karin A1 - Feldmann, Ines A1 - Brzezinka, Klaus-Werner A1 - Wenzel, Klaus-Jürgen T1 - Naturwissenschaftliche Untersuchungen und Restaurierung von Glasmalereien des 19. Jahrhunderts aus der Kirche zu Lindow T2 - Denkmal 2004, Europäische Messe für Restaurierung, Denkmalpflege und Stadterneuerung CY - Leipzig, Germany DA - 2004-10-27 PY - 2004 AN - OPUS4-4593 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Vengrinovich, Valery A1 - Zolotarev, Serguei A1 - Ewert, Uwe A1 - Redmer, Bernhard A1 - Tillack, G.-R. T1 - Tomographic visualization, inspection and control of thick pipe walls by restricted X-ray data KW - Computertomographie KW - Rekonstruktionsalgorithmen KW - Wanddickenbestimmung KW - Schweißnahtscanner PY - 2004 VL - 2003 SP - 269 EP - 279 PB - Belaruskaya Navuka Publishing House CY - Minsk AN - OPUS4-4591 LA - rus AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Jaenisch, Gerd-Rüdiger A1 - Bellon, Carsten A1 - Zagonov, V. P. A1 - Zukhovsky, M. E. A1 - Podolyako, S.V. A1 - Skachkov, M.V. T1 - Boundary Description Approach Application for Modeling the X-Ray Transformation in Computational Diagnostics Problems KW - Radiographie KW - Modellierung KW - Oberflächenmodelle KW - CAD KW - Monte Carlo Modell PY - 2004 SN - 1048-5082 VL - 16 IS - 5 SP - 103 EP - 116 PB - Birkhäuser CY - Boston, Mass. AN - OPUS4-4592 LA - rus AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Zorn, R. A1 - Frick, B. A1 - Hartmann, L. A1 - Kremer, F. A1 - Schönhals, Andreas A1 - Richter, D. T1 - Dynamics of confined glass-forming systems observed by neutron scattering N2 - In this article, results on the microscopic dynamics of a low-molecular glass former and a polymer confined in nanoporous silica obtained by inelastic neutron scattering are presented. By combining time-of-flight spectroscopy and backscattering spectroscopy we are able to cover a large dynamical range, from the low-frequency vibrations to the relaxation. The most prominent effect was observed on the “boson peak” in the vibrational spectrum. A strong reduction of the modes at lowest frequencies could be observed in both cases. The main effect on the relaxation is a broadening for the salol system. For the polymeric system a difference of the confinement influence on the methyl-group rotation and the relaxation can be detected from a first qualitative interpretation of the data. T2 - 3rd European Conference on Neutron Scattering (ECNS-3) CY - Montpellier, France DA - 2003-09-03 KW - Glass transition KW - Confinement PY - 2004 U6 - https://doi.org/10.1016/j.physb.2004.03.303 SN - 0921-4526 SN - 1873-2135 VL - 350 IS - 1-3 SP - e1115 EP - e1118 PB - North-Holland Physics Publ. CY - Amsterdam AN - OPUS4-4589 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Artemiev, Valentin M. A1 - Naumov, Alexandre A1 - Tillack, G.-R. T1 - Dynamic image reconstruction for process tomography KW - Prozesstomographie KW - Rekonstruktionsalgorithmen KW - Dynamische Prozesse KW - Kalman-Filter PY - 2004 VL - 2003 SP - 27 EP - 45 PB - Belaruskaya Navuka Publishing House CY - Minsk AN - OPUS4-4590 LA - rus AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Tscharntke, Dirk A1 - Erhard, Anton A1 - Heckel, Thomas A1 - Krull, R. A1 - Hintze, H. T1 - Entwicklung eines Ultraschall-Schienenprüfsystems mit der Gruppenstrahler-Technik T2 - Applikationsseminar BAM/ZfP CY - Berlin, Germany DA - 2003-11-14 PY - 2003 AN - OPUS4-4587 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Brekow, Gerhard A1 - Erhard, Anton A1 - Munikoti, Vijayendra K. A1 - Tessaro, Ute A1 - Tscharntke, Dirk T1 - Modelling for the improvement of dissimilar weld inspection T2 - 16th World Conference on Nondestructive Testing (WCNDT 2004) CY - Montreal, Canada DA - 2004-08-30 PY - 2004 AN - OPUS4-4588 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Tscharntke, Dirk A1 - Boehm, Rainer A1 - Erhard, Anton A1 - Heckel, Thomas A1 - Krull, R. A1 - Lützner, J. T1 - Development Of Ultrasonic Railway Inspection Systems Using Phased Array Methods. T2 - 6 th International Conference And Exibition-Railway Engineering 2003 CY - London, England DA - 2003-04-30 PY - 2003 AN - OPUS4-4586 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Kohl, Christoph A1 - Krause, Martin A1 - Maierhofer, Christiane A1 - Mayer, K. A1 - Wöstmann, Jens A1 - Wiggenhauser, Herbert T1 - 3D-visualisation of NDT data using a data fusion technique KW - Non-destructive testing KW - Radar KW - Ultrasonic KW - Data fusion KW - SAFT PY - 2003 SN - 0007-1137 VL - 45 IS - 12 SP - 800 EP - 808 PB - British Institute of Non-Destructive Testing CY - Northampton AN - OPUS4-4585 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Tscharntke, Dirk A1 - Erhard, Anton A1 - Wüstenberg, Hermann T1 - Bewertung kritischer Befunde bei der Ultraschallprüfung an Schweißnähten mit Modellrechnungen T2 - 222. Sitzung der DGZfP e.V. Arbeitskreis Berlin CY - Berlin, Germany DA - 2000-09-05 PY - 2000 AN - OPUS4-4584 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Paatsch, Wolfgang A1 - Beck, Uwe A1 - Senoner, Mathias T1 - Entwicklung von Referenzmaterialien für die Oberflächentechnik im Mikrometer- und Nanometerbereich T2 - Oberflächentage 2004 ; 42. Jahrestagung. Deutsche Gesellschaft für Galvano- und Oberflächentechnik CY - Dresden, Deutschland DA - 2004-09-22 KW - Laterale Auflösung KW - Nanometrologie KW - Nanotechnologie KW - Oberflächenanalytik KW - Zertifiziertes Referenzmaterial PY - 2004 SN - 3-9806061-2-0 SP - 263 EP - 266 PB - DGO CY - [Hilden] AN - OPUS4-4582 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Steiger, Thomas A1 - Steudel, R. T1 - Sulphur compounds. Part 149. Structures, relative stabilities and vibrational spectra of several isomeric forms of sulphoxylic acid (H2SO2) and its anion (HSO2-): an ab initio study alpha PY - 1992 SN - 0022-2860 SN - 1872-8014 SN - 0377-046X SP - 313 EP - 323 PB - Elsevier CY - Amsterdam AN - OPUS4-4583 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - GEN A1 - Kannengießer, Thomas A1 - Wolf, Martin A1 - Schobbert, Helmut T1 - Recent developments in nickel base material welding considering the influence of shielding gas on the hot cracking resistance T2 - Stainless Steel World America 2004 Conference & Expo CY - Houston, TX, USA DA - 2004-10-20 KW - Nickel base material KW - Welding KW - Shielding gas KW - Hot cracking resistance PY - 2004 SN - 90-73168-23-6 SP - 156 EP - 167 PB - KCI Publ. BV CY - Zutphen AN - OPUS4-4581 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -