TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Hertwig, Andreas A1 - Männ, Marion A1 - Weise, Matthias T1 - Ellipsometrie als Referenzverfahren: Charakterisierung von Referenzmaterialien - Validierung von Präparations- und Prüfverfahren - Qualitätssicherung für funktionelle Oberflächen T2 - 3. Workshop "Ellipsometrie" T2 - 3. Workshop "Ellipsometrie" CY - Stuttgart, Germany DA - 2004-02-23 PY - 2004 AN - OPUS4-3322 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Gamer, Nadja A1 - Reiners, Georg A1 - Hense, Eduard A1 - Arndt, Jürgen T1 - Optimierung bei Oberflächen mit Fehlstellen T2 - VDMA-Workshop, PBA-Sitzung T2 - VDMA-Workshop, PBA-Sitzung CY - Frankfurt am Main, Germany DA - 2004-06-30 PY - 2004 AN - OPUS4-3633 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Procop, Mathias A1 - Senoner, Mathias A1 - Österle, Werner A1 - Dück, Alexander A1 - Griepentrog, Michael A1 - Hertwig, Andreas T1 - Preparation, Characterisation and Certification of Reference Coatings for Surface and Thin Film Technology: BAM Certified Reference Materials T2 - 9th International Conference on Plasma Surface Engineering (PSE) T2 - 9th International Conference on Plasma Surface Engineering (PSE) CY - Garmisch-Partenkirchen, Germany DA - 2004-09-13 PY - 2004 AN - OPUS4-4185 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Hertwig, Andreas A1 - Krüger, Jörg A1 - Reiners, Georg T1 - Qualitätssicherung in der Oberflächentechnik mit optischen Verfahren T2 - AK-Plasma T2 - AK-Plasma CY - Berlin, Germany DA - 2006-05-31 PY - 2006 AN - OPUS4-12496 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe T1 - Oberflächenanalytik und Schichttechnik T2 - 12. Sitzung des AK "Korrosionsschutz durch Beschichtungen" T2 - 12. Sitzung des AK "Korrosionsschutz durch Beschichtungen" CY - Berlin, Germany DA - 2005-09-20 PY - 2005 AN - OPUS4-10873 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Hertwig, Andreas A1 - Reiners, Georg T1 - Qualitätssicherung in der Oberflächen- und Schichttechnik mit optischen Verfahren T2 - Congress Industrielle Oberflächentechnik T2 - Congress Industrielle Oberflächentechnik CY - Braunschweig, Germany DA - 2005-02-22 PY - 2005 AN - OPUS4-5605 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Reiners, Georg A1 - Sommer, K. A1 - Bobe, U. A1 - Schmidt, R. T1 - Safety of food production: Characterisation of surfaces for sterile applications T2 - PSE 2006 T2 - PSE 2006 CY - Garmisch-Partenkirchen, Germany DA - 2006-09-10 PY - 2006 AN - OPUS4-12039 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Hielscher, Stefan A1 - Kern, Janine A1 - Weise, Matthias A1 - Lange, Thorid T1 - Adhesive and Bonding Strength - Comparative Study: Conventional Tests vs. Centrifuge Technology T2 - International Workshop Dispersion Analysis T2 - International Workshop Dispersion Analysis CY - Berlin, Germany DA - 2013-03-07 PY - 2013 AN - OPUS4-28045 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Hertwig, Andreas A1 - Rosu, Dana Maria A1 - Sahre, Mario A1 - Weise, Matthias T1 - Oxides, nitrides and oxynitrides on non-silicon substrates with tailored mechanical, optical, electrical and chemical properties T2 - ICMCTF 2013 T2 - ICMCTF 2013 CY - San Diego, CA, USA DA - 2013-04-29 PY - 2013 AN - OPUS4-28506 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Hertwig, Andreas A1 - Stephanowitz, Ralph A1 - Weise, Matthias A1 - Hönig, D. A1 - Schneider, S. A1 - Domnick, R. A1 - Belzner, M. T1 - Schichtsysteme für den Marken-, Produkt- und Dokumentenschutz T2 - Plasma Germany T2 - Plasma Germany CY - Berlin, Germany DA - 2013-05-13 PY - 2013 AN - OPUS4-28507 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Hertwig, Andreas T1 - Practical Aspects of Measurement and Data Evaluation - Invited Keynote Tutorial T2 - WSE 07, 2012 T2 - WSE 07, 2012 CY - Leipzig, Germany DA - 2012-03-05 PY - 2012 AN - OPUS4-25693 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe T1 - Plasmabeschichtungsverfahren - eine Übersicht T2 - OPTEC BB: Messen, Prüfen, Kalibrieren (MPK-2011): Beschichtung von metallischen Oberflächen T2 - OPTEC BB: Messen, Prüfen, Kalibrieren (MPK-2011): Beschichtung von metallischen Oberflächen CY - Potsdam, Germany DA - 2011-10-26 PY - 2011 AN - OPUS4-24461 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe T1 - Plasmabeschichtungsverfahren - eine Übersicht T2 - Innovationsforum Schutz und Veredelungsschichten, eingeladener Übersichtsvortrag T2 - Innovationsforum Schutz und Veredelungsschichten, eingeladener Übersichtsvortrag CY - Wildau, Germany DA - 2012-02-28 PY - 2012 AN - OPUS4-25241 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe T1 - Charakterisierung idealer, realer und modifizierter Oberflächen für den sterilen Behälterbau T2 - Innovationsforum Schutz- und Veredelungsschichten, eingeladener Übersichtsvortrag T2 - Innovationsforum Schutz- und Veredelungsschichten, eingeladener Übersichtsvortrag CY - Wildau, Germany DA - 2012-02-28 PY - 2012 AN - OPUS4-25242 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Hertwig, Andreas T1 - Ellipsometry - Practical Aspects of Measurement and Data Evaluation T2 - 7. Workshop Ellipsometry, March 5-7, 2012; Review Tutorial invited T2 - 7. Workshop Ellipsometry, March 5-7, 2012; Review Tutorial invited CY - Leipzig, Germany DA - 2012-03-05 PY - 2012 AN - OPUS4-24894 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Mix, Renate A1 - Hielscher, Stefan T1 - Vergleichende Bestimmung der Haft- und Klebefestigkeit modifizierter Kunststoffoberflächen mittels Zentrifugentechnologie und konventioneller Prüfmethoden T2 - Fachtagung RWTH Aachen "Plasmen in der Kunststoffverarbeitung" T2 - Fachtagung RWTH Aachen "Plasmen in der Kunststoffverarbeitung" CY - Aachen, Germany DA - 2012-12-04 PY - 2012 AN - OPUS4-27664 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Hielscher, Stefan A1 - Mix, Renate A1 - Kern, Janine A1 - Weise, Matthias A1 - Lerche, D. A1 - Rietz, U. T1 - Prüfung der Kleb- und Haftfestigkeit mittels Zentrifugentechnologie im Mehrprobenversuch T2 - 11. Praxis Seminar Kleben T2 - 11. Praxis Seminar Kleben CY - Jena, Germany DA - 2013-01-30 PY - 2013 AN - OPUS4-27666 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Hielscher, Stefan A1 - Lange, Thorid A1 - Sahre, Mario A1 - Weise, Matthias A1 - Mix, Renate A1 - Lerche, D. A1 - Rietz, U. T1 - Haftfestigkeit von Beschichtungen: Zentrifugentechnologie im Vergleich mit anderen Prüfmethoden T2 - Berliner Fachseminar der DGO T2 - Berliner Fachseminar der DGO CY - Berlin, Germany DA - 2013-01-31 PY - 2013 AN - OPUS4-27667 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe T1 - Prüfung der Kleb- und Haftfestigkeit mittels Zentrifugenversuch T2 - 11. Workshop des ak-adp (Anwenderkreis Atmosphärendruckplasma) T2 - 11. Workshop des ak-adp (Anwenderkreis Atmosphärendruckplasma) CY - Erfurt, Germany DA - 2012-03-15 PY - 2012 AN - OPUS4-25524 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Reiners, Georg T1 - Sicherheit bei der Produktion von Lebensmitteln: Charakterisierung von Oberflächen für die Steriltechnik T2 - 63. FEI-Diskussionstagung 2005 T2 - 63. FEI-Diskussionstagung 2005 CY - Berlin, Germany DA - 2005-09-13 PY - 2005 AN - OPUS4-10708 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Hertwig, Andreas A1 - Krüger, Jörg T1 - Material-, topgraphy- and feature recognition: Challenges on optical property testing of surfaces and thin films T2 - 35th International Conference On Metallurgical Coatings And Thin Films (ICMCTF 2008) T2 - 35th International Conference On Metallurgical Coatings And Thin Films (ICMCTF 2008) CY - San Diego, CA, USA DA - 2008-04-28 PY - 2008 AN - OPUS4-15880 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Griepentrog, Michael A1 - Hertwig, Andreas A1 - Senoner, Mathias T1 - Herstellung, Charakterisierung und Zertifizierung von Referenzschichten für die Oberflächentechnik T2 - GDMB-Sitzung T2 - GDMB-Sitzung CY - Berlin, Germany DA - 2005-11-08 PY - 2005 AN - OPUS4-10941 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Reiners, Georg A1 - Lerche, D. T1 - Centrifuge Technology: A Promising Tool for the Determination of Adhesion and Mechanical Properties! T2 - The International Conference On Metallurgical Coatings And Thin Films, ICMCTF 2007 T2 - The International Conference On Metallurgical Coatings And Thin Films, ICMCTF 2007 CY - San Diego, CA, USA DA - 2007-04-23 PY - 2007 AN - OPUS4-15036 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Hertwig, Andreas A1 - Krüger, Hannes A1 - Sahre, Mario A1 - Weise, Matthias A1 - Männ, Marion T1 - Optical property testing for material control in thin film and surface technology T2 - 72. DPG-Tagung, DS 14: Optical Layers Basis Research and Applications T2 - 72. DPG-Tagung, DS 14: Optical Layers Basis Research and Applications CY - Berlin, Germany DA - 2008-01-25 PY - 2008 AN - OPUS4-16210 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Hertwig, Andreas A1 - Stephanowitz, Ralph A1 - Sahre, Mario A1 - Weise, Matthias T1 - Evaluation of Lateral Resolution and Spot Size: Imaging and Mapping Ellipsometry vs. White Light Interference and Atomic Force Microscopy T2 - 5th Workshop Ellipsometry T2 - 5th Workshop Ellipsometry CY - Zweibrücken, Germany DA - 2009-03-02 PY - 2009 AN - OPUS4-18476 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe T1 - Haftvermögen, Topographie und optische Konstanten - zentrale Kenngrößen modifizierter Oberflächen T2 - SGO - Fachtagung / Jahrestagung T2 - SGO - Fachtagung / Jahrestagung CY - Solothurn, Switzerland DA - 2008-10-29 PY - 2008 AN - OPUS4-17873 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe T1 - Haftfestigkeit, Topographie und optische Konstanten - zentrale Kenngrößen modifizierter Oberflächen T2 - Technische Jahresfachtagung der Schweizer Gesellschaft für Oberflächentechnik (SGO) T2 - Technische Jahresfachtagung der Schweizer Gesellschaft für Oberflächentechnik (SGO) CY - Solothurn, Switzerland DA - 2008-10-29 PY - 2008 AN - OPUS4-18184 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Hertwig, Andreas A1 - Reiners, Georg A1 - Weise, Matthias A1 - Hartung, J. A1 - Reinhold, E. A1 - Strümpfel, J. T1 - Ion-assisted vs. Plasma-assisted PVD: Preparation of Optical Multi-layers in a Versatile Cluster System Implementing Electron Beam and Sputter Technology T2 - SVC 2004 T2 - SVC 2004 CY - Dallas, TX, USA DA - 2004-04-24 PY - 2004 AN - OPUS4-4876 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Reiners, Georg A1 - Gamer, Nadja T1 - Bewertung steriltechnischer Oberflächen - Zusammenfassung zweier AiF-Projekte T2 - DIN/DVS AA 14/AG V7 "Thermisches Spritzen und thermisch gespritzte Schichten" T2 - DIN/DVS AA 14/AG V7 "Thermisches Spritzen und thermisch gespritzte Schichten" CY - Berlin, Germany DA - 2004-03-31 PY - 2004 AN - OPUS4-4877 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Hertwig, Andreas A1 - Griepentrog, Michael T1 - Bestimmung der Topographie technischer Oberflächen und der Haftfestigkeit an beschichteten Bauteilen T2 - DGO Jahrestagung, 63. Ulmer Gespräch T2 - DGO Jahrestagung, 63. Ulmer Gespräch CY - Ulm, Germany DA - 2005-04-28 PY - 2005 AN - OPUS4-6883 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Reiners, Georg A1 - Sommer, K. A1 - Bobe, U. A1 - Schmidt, R. T1 - Oberflächen in der Lebensmittelindustrie: Hygenetic Design, Sterilisation, Reinigung T2 - Workshop Kompetenzzentrum CC-NanoChem T2 - Workshop Kompetenzzentrum CC-NanoChem CY - Berlin, Germany DA - 2006-09-29 PY - 2006 AN - OPUS4-13402 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Hertwig, Andreas A1 - Sahre, Mario A1 - Weise, Matthias A1 - Stockmann, Jörg M. A1 - Trutz, Sebastian T1 - Imaging of Surface Impurities, Imfections, Residues, Contaminations and Nano-scaled Pattern: Microscopic Techniques vs. Ellipsometric T2 - Workshop Ellipsometry T2 - Workshop Ellipsometry CY - Dresden, Germany DA - 2014-03-10 PY - 2014 AN - OPUS4-29570 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Hertwig, Andreas T1 - Optische Prüfverfahren zur Qualitätskontrolle in der Dünnschicht- und Oberflächentechnik T2 - Fachkonferenz "Messen, Prüfen, Kalibrieren" T2 - Fachkonferenz "Messen, Prüfen, Kalibrieren" CY - Berlin, Germany DA - 2009-04-30 PY - 2009 AN - OPUS4-19248 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe T1 - Funktionelle Oberflächen - Beschichtung, Modifizierung, Charakterisierung: Nanotechnologien in der Steriltechnik, im Verschleiß- und Korrosionsschutz T2 - Kooperationsforum: Funktionelle Oberflächen T2 - Kooperationsforum: Funktionelle Oberflächen CY - Berlin, Germany DA - 2009-10-08 PY - 2009 AN - OPUS4-19664 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Reiners, Georg A1 - Weise, Matthias A1 - Hielscher, Stefan A1 - Lerche, D. A1 - Rietz, U. T1 - Qualitative Adhesion Testing of Metallic Films on Polymers by means of the Centrifuge Test T2 - 18. Neues Dresdner Vakuumtechnisches Kolloquium T2 - 18. Neues Dresdner Vakuumtechnisches Kolloquium CY - Dresden, Germany DA - 2010-10-21 PY - 2010 AN - OPUS4-21263 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Reiners, Georg A1 - Weise, Matthias A1 - Hielscher, Stefan A1 - Lerche, D. A1 - Rietz, U. T1 - Qualitative Adhesion Testing of Coatings: Pull-off vs. Centrifuge Test T2 - 24th International Conference on Surface Modification Technologies T2 - 24th International Conference on Surface Modification Technologies CY - Dresden, Germany DA - 2010-09-07 PY - 2010 AN - OPUS4-21265 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe T1 - Schichten sind fast überall - Nanotechnologische Funktionalisierung von Oberflächen T2 - MST Kooperationsforum: Moderne Beschichtungs- und Oberflächentechnologien T2 - MST Kooperationsforum: Moderne Beschichtungs- und Oberflächentechnologien CY - Cologne, Germany DA - 2009-12-09 PY - 2009 AN - OPUS4-20670 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Stephanowitz, Ralph A1 - Hertwig, Andreas A1 - Schneider, Stefan A1 - Weise, Matthias A1 - Hönig, D. A1 - Domnick, R. A1 - Belzner, M. T1 - Identification and Authentication Testing of Native Surface Features and Artificial Layer Modifications by means of Imaging Ellipsometry T2 - 5th International Conference on Spectroscopic Ellipsometry (ICSE V) T2 - 5th International Conference on Spectroscopic Ellipsometry (ICSE V) CY - Albany, NY, USA DA - 2010-05-23 PY - 2010 AN - OPUS4-20760 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Reiners, Georg A1 - Weise, Matthias A1 - Lerche, D. A1 - Rietz, U. A1 - Niederwald, H. T1 - Quantitative Adhesion Testing of PVD Coatings by means of Centrifuge Technology T2 - PSE T2 - PSE CY - Garmisch-Partenkirchen, Germany DA - 2010-09-13 PY - 2010 AN - OPUS4-20870 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe T1 - Die BAM - Materialforschung für Sicherheit und Technik T2 - Wissenschaft trifft Handwerk, Neue Werkstoffe und Technologien für die Präzionsfertigung T2 - Wissenschaft trifft Handwerk, Neue Werkstoffe und Technologien für die Präzionsfertigung CY - Leipzig, Germany DA - 2010-04-21 PY - 2010 AN - OPUS4-20921 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Baier, Jennifa A1 - Hertwig, Andreas A1 - Stephanowitz, Ralph A1 - Weise, Matthias T1 - Optical Mapping and Imaging for Quality Control of Thin Films and Surfaces T2 - ICCG 8, The 8th International Conference on Coatings on Glass and Plastics - Advanced Coatings for Large Area or High-Volume Products T2 - ICCG 8, The 8th International Conference on Coatings on Glass and Plastics - Advanced Coatings for Large Area or High-Volume Products CY - Braunschweig, Germany DA - 2010-06-15 PY - 2010 AN - OPUS4-21026 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Stephanowitz, Ralph A1 - Hertwig, Andreas A1 - Hönig, D. A1 - Schneider, S. A1 - Domnick, R. A1 - Belzner, M. T1 - Fabry-Perot Based Laser Systems with Embedded Public, Hidden, and Forensic Information For Anti-counterfeiting Applications T2 - International Conference on Metallurgical Coatings and Thin Films (ICMCTF) T2 - International Conference on Metallurgical Coatings and Thin Films (ICMCTF) CY - San Diego, CA, USA DA - 2011-05-02 PY - 2011 AN - OPUS4-22094 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Hielscher, Stefan A1 - Reiners, Georg A1 - Weise, Matthias A1 - Lerche, D. A1 - Rietz, U. T1 - Comparative Study on Bonding and Adhesive Strength Testing vs. Centrifuge Test T2 - 18. Neues Dresdner Vakuumtechnisches Kolloquium (NDVaK) T2 - 18. Neues Dresdner Vakuumtechnisches Kolloquium (NDVaK) CY - Dresden, Germany DA - 2010-10-21 PY - 2010 AN - OPUS4-22244 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Baier, Jennifa T1 - Imaging und Mapping von Oberflächen und Schichten in der Materialforschung und -prüfung T2 - Anwenderseminar IR-Bildgebung T2 - Anwenderseminar IR-Bildgebung CY - Ettlingen, Germany DA - 2010-11-22 PY - 2010 AN - OPUS4-22571 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Hertwig, Andreas A1 - Stephanowitz, Ralph A1 - Weise, Matthias A1 - Hönig, D. A1 - Schneider, S. A1 - Domnick, R. A1 - Belzner, M. T1 - Elliptometrisch codierbare Schichtsysteme für den Dokumenten-, Produkt- und Markenschutz T2 - Kompetenznetz INPLAS, eingeladener Vortrag T2 - Kompetenznetz INPLAS, eingeladener Vortrag CY - Berlin, Germany DA - 2012-10-23 PY - 2012 AN - OPUS4-26726 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Hertwig, Andreas A1 - Stephanowitz, Ralph A1 - Weise, Matthias A1 - Hönig, D. A1 - Schneider, S. A1 - Domnick, R. A1 - Belzner, M. T1 - Multispektraler Response und Ellipsometrische Codierung von Schichtsystemen für den Dokumenten-, Produkt- und Markenschutz T2 - OPTEC BB, Optische Messtechnik - Mehrdimensionale Spektroskopie T2 - OPTEC BB, Optische Messtechnik - Mehrdimensionale Spektroskopie CY - Berlin, Germany DA - 2012-11-20 PY - 2012 AN - OPUS4-27151 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Hielscher, Stefan T1 - Validierung der Zentrifugentechnologie zur Qualitätssicherung der Haft- und Verbundfestigkeit von Beschichtungen auf und Verklebungen mit Kunststoffen; eingeladener Vortrag T2 - 20. NDVaK T2 - 20. NDVaK CY - Dresden, Germany DA - 2012-10-25 PY - 2012 AN - OPUS4-27154 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Hielscher, Stefan A1 - Weise, Matthias A1 - Mix, Renate A1 - Lerche, D. A1 - Rietz, U. T1 - Progress in Quantitative Adhesion Testing of Films and Coatings by means of Centrifuge Technology - Present State of the Art T2 - PSE 2012, 13th International Conference on Plasma Surface Engineering T2 - PSE 2012, 13th International Conference on Plasma Surface Engineering CY - Garmisch-Partenkirchen, Germany DA - 2012-09-10 PY - 2012 AN - OPUS4-26123 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe T1 - Haft- und Klebefestigkeit modifizierter Kunststoffoberflächen - Zentrifugentechnologie vs. konventionelle Prüfverfahren T2 - NEMO-Netzwerksymposium T2 - NEMO-Netzwerksymposium CY - Wildau, Germany DA - 2014-03-04 PY - 2014 AN - OPUS4-30118 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Hielscher, Stefan A1 - Lange, Thorid A1 - Rietz, U. A1 - Lerche, D. A1 - Pfuch, A. A1 - Lindner, E. T1 - Mehr-Proben-Konzept zum Kleben und Prüfen: Validierung von Klebverbunden im OKTETT T2 - Thüringer Grenz- und Oberflächentage T2 - Thüringer Grenz- und Oberflächentage CY - Leipzig, Germany DA - 2014-09-02 PY - 2014 AN - OPUS4-30127 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -