TY - CONF A1 - Friedrich, Jörg Florian A1 - Ghode, Archana A1 - Kühn, Gerhard A1 - Weidner, Steffen A1 - Geng, Shiming A1 - Retzko, Iris A1 - Unger, Wolfgang A1 - Lippitz, Andreas ED - Schindel-Bidinelli, E. T1 - Polymeroberflächenfunktionalisierungen im gepulsten Plasma mit nachfolgender chemischer Behandlung T2 - 14. Internationales Symposium Swissbonding ; 14. Internationaler Kongreß Swiss Bonding ; 14th Swiss Bonding 00 CY - Rapperswil, Schweiz DA - 2000-05-16 PY - 2000 SP - 31 EP - 44 PB - SWIBOTECH GmbH CY - Bülach AN - OPUS4-6980 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Retzko, Iris A1 - Friedrich, Jörg Florian A1 - Kühn, Gerhard A1 - Lippitz, Andreas A1 - Unger, Wolfgang T1 - Eine neue Generation von alterungsbeständigen Plasmapolymeren mit definierter chemischer Struktur T2 - 8. Neues Dresdner Vakuumtechnisches Kolloquium (NDVaK) CY - Dresden, Deutschland DA - 2000-10-19 PY - 2000 VL - 8 SP - 110 EP - 114 CY - Dresden AN - OPUS4-6974 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Friedrich, Jörg Florian A1 - Mix, Renate A1 - Kühn, Gerhard A1 - Unger, Wolfgang T1 - Functional groups bearing plasma homo and copolymer layers as adhesion promoters in metal-polymer composites T2 - 10. Neues Dresdner Vakuumtechnisches Kolloquium (NDVaK) CY - Dresden, Germany DA - 2002-10-17 PY - 2002 SP - 6 EP - 15 PB - DTVa CY - Dresden AN - OPUS4-6970 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Unger, Wolfgang T1 - The application of X-ray Photoelectron Spectroscopy (ESCA) and X-Ray Absorption Spectroscopy (NEXAFS) in Interface Analysis of Metallized Polymers T2 - AIST-BAM Symposium on Materials Surface Technology in Twin Institute Programme CY - Tsukuba, Japan DA - 2003-02-18 PY - 2003 SP - 53 EP - 58 AN - OPUS4-6929 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Retzko, Iris A1 - Treu, Dieter A1 - Matsubayashi, N. A1 - Imamura, M. A1 - Tanaka, T. A1 - Schulz, H. A1 - Lippitz, Andreas A1 - Unger, Wolfgang T1 - Analysis of carbon materials and plasma polymers by X-ray photoelectron spectroscopy and X-ray absorption spectroscopy (XPS, XAS) T2 - AIST-BAM Symposium on Materials Surface Technology in Twin Institute Programme CY - Tsukuba, Japan DA - 2003-02-18 PY - 2003 SP - 59 EP - 65 AN - OPUS4-6928 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Matsubayashi, N. A1 - Imamura, M. A1 - Tanaka, T. A1 - Shimada, H. A1 - Retzko, Iris A1 - Unger, Wolfgang T1 - Surface Analysis by XPS and XAS Using a High-Rsolution and High-Flux Soft X-ray from Synchrotron T2 - AIST-BAM Symposium on Materials Surface Technology in Twin Institute Programme CY - Tsukuba, Japan DA - 2003-02-18 KW - XPS KW - XAS KW - DLC KW - Synchrotron Radiation PY - 2003 SP - 67 EP - 69 AN - OPUS4-6927 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Unger, Wolfgang A1 - Lippitz, Andreas A1 - Koprinarov, Ivaylo A1 - Friedrich, Jörg Florian A1 - Wöll, Ch. T1 - K-Edge Soft X-ray Absorption (NEXAFS) Spectroscopy In Surface Chemical Analysis of Polymers T2 - International Discussion Meeting Advanced Methods of Polymer Characterization: New Developments and Applications in Industry CY - Mainz, Germany DA - 1999-03-15 PY - 1999 SP - P3.53 CY - Mainz AN - OPUS4-6925 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Güttler, B. A1 - Schiel, D. A1 - Danzebrink, H. A1 - Unger, Wolfgang A1 - Gross, Thomas A1 - Lippitz, Andreas A1 - Müller, J.-P. T1 - Physical and Chemical Characterization of Thermal and Native Siliconoxide layers on Silicon T2 - Symposium "Reference Materials for Technologies in the New Millenium" CY - Berlin, BAM, Germany DA - 2000-05-22 PY - 2000 SP - 1(?) EP - 7(?) AN - OPUS4-6924 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Senoner, Mathias A1 - Wirth, Thomas A1 - Unger, Wolfgang T1 - A reference material for calibration and testing of instruments with nanometric lateral resolution T2 - SIMS Europe 2002 ; 3rd European Workshop on Secondary Ion Mass Spectrometry CY - Münster, Germany DA - 2002-09-15 PY - 2002 SP - 58 AN - OPUS4-6841 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Unger, Wolfgang ED - Blasek, G. T1 - Plasmapolymerschichten: Zu den Möglichkeiten einer chemischen Charakterisierung mit den Methoden ESCA, ToF-SIMS und Röntgen-absorptions-Spektroskopie (XAS) T2 - 12. Neues Dresdener Vakuumtechnisches Kolloquium (NDVaK) CY - Dresden, Deutschland DA - 2004-10-14 KW - ESCA KW - ToF-SIMS KW - XAS KW - Plasma-Polymerisation PY - 2004 SP - 133 EP - 140 PB - Dresdner Transferstelle für Vakuumtechnik CY - Dresden AN - OPUS4-4699 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Retzko, Iris A1 - Unger, Wolfgang A1 - Gesatzke, Wolfgang A1 - Scholl, A. A1 - Kilcoyne, A. D. A1 - Koprinarov, I. A1 - Ade, H. A1 - Hitchcock, A. P. A1 - Schulz, H. A1 - Scheibe, H.-J. ED - Tamura, L. S. T1 - Spectromicroscopy with inhomogeneous ta - C samples PY - 2003 UR - http://repositories.cdlib.org/lbnl/LBNL-52519/ SP - 1 EP - 3(?) AN - OPUS4-4694 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Unger, Wolfgang A1 - Gross, Thomas T1 - XPS/ESCA - Ringversuchsergebnisse T2 - Seminar Oberflächenanalytik "Technische Aspekte der Akkreditierung nach ISO/IEC 17025" CY - Berlin, Deutschland DA - 2003-01-24 PY - 2003 SP - 1 EP - 3 AN - OPUS4-2120 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Unger, Wolfgang T1 - Methoden der Oberflächen- und Schichtanalytik - Anwendungen, Normung und Qualitätssicherung T2 - 12. Jahreskolloquium "Analyse von Feststoffen unterschiedlicher Materialien aus Industrie und Umwelt" CY - Berlin, Deutschland DA - 2002-11-19 PY - 2002 AN - OPUS4-1997 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Unger, Wolfgang T1 - Web site for information on reference materials T2 - Proceedings of the Final Meeting CY - Wiener Neustadt, Austria DA - 2002-03-04 PY - 2002 SP - 1(?) EP - 3(?) AN - OPUS4-1472 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Senoner, Mathias A1 - Unger, Wolfgang A1 - Koenders, L. A1 - Wilkening, G. T1 - Accuracy of step height determination by Atomic Force Microscopy - results of an inter-laboratory comparison T2 - 3rd International Conference European Society for Precision Engineering and Nanotechnology (euspen) CY - Eindhoven, The Netherlands DA - 2002-05-26 PY - 2002 SP - 773 EP - 776 AN - OPUS4-1415 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Gross, Thomas A1 - Lippitz, Andreas A1 - Unger, Wolfgang T1 - Charakterisierung von Siliziumoxidschichten auf Silizium mit ESCA - Ein Beitrag zur Präszisionsbestimmung der Avogadro-Konstanten T2 - EMASS 2000 CY - Berlin, Deutschland DA - 2000-11-10 PY - 2000 AN - OPUS4-1020 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Unger, Wolfgang T1 - Bewertung & Charakterisierung technischer Oberflächen für die verarbeitende Industrie T2 - Workshop und Präsentation CY - Bergisch Gladbach, Deutschland DA - 2000-05-11 PY - 2000 CY - Dresden AN - OPUS4-999 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Unger, Wolfgang A1 - Böse, Olaf A1 - Gross, Thomas A1 - Lippitz, Andreas A1 - Gelius, U. ED - Boehlig, H. T1 - Results of a VAMAS TWA 2 inter-laboratory test experimen - Evaluation of static charge stabilization and determination methods in XPS on non-conducting samples T2 - 11th Conference on Applied Surface Analysis (AOFA) CY - Leipzig, Germany DA - 2000-09-24 PY - 2000 SN - 0169-4332 VL - 179 IS - 1 PB - Elsevier CY - Amsterdam AN - OPUS4-978 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Unger, Wolfgang T1 - The application of X-ray Photoelectron Spectroscopy (ESCA) and X-Ray Absorption Spectroscopy (NEXAFS) in Interface Analysis of Metallized Polymers T2 - Summer Workshop "Functionalized Surfaces: Applications and Analytical Tools" CY - Zurich, Switzerland DA - 1999-07-05 KW - ESCA KW - NEXAFS PY - 1999 SP - F1 EP - F12 AN - OPUS4-797 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -