TY - CONF A1 - Müller, Bernd R. T1 - Refraction Enhanced MicroCT for Non-Destructive Materials Characterization T2 - Workshop on X-Ray Micro Imaging of Materials, Devices, and Organisms CY - Dresden, Germany DA - 2008-10-22 PY - 2008 AN - OPUS4-18151 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Müller, Bernd R. T1 - X-Ray Refraction Topography characterizes Internal Nano Interfaces T2 - 16th World Conference on Nondestructive Testing (WCNDT 2004) CY - Montreal, Canada DA - 2004-08-30 PY - 2004 AN - OPUS4-5567 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Müller, Bernd R. T1 - Materialforschung mit Synchrotron-Refraktions-Computer-Tomographie an der BAMline T2 - Vortrag im Sonderkolloquium der DGZfP zu Ehren von Dr. Ing. Klaus Berner, DGZfP-Tagungszentrum, Adlershof CY - Berlin, Germany DA - 2005-02-01 PY - 2005 AN - OPUS4-11402 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Müller, Bernd R. T1 - Sichere Automobil Elektronik durch nanogenaues Synchronotron-Prüfverfahren SyBrATo T2 - DGZfP Jahrestagung 2007 CY - Fürth, Germany DA - 2007-05-14 PY - 2007 AN - OPUS4-14324 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Müller, Bernd R. T1 - Visualisierung gebogener Ics - Wozu? T2 - Industrieforum "Bildgebende Röntgenverfahren, neue Einblicke in kleinste Strukturen" CY - Karlsruhe, Germany DA - 2006-11-17 PY - 2006 AN - OPUS4-15469 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Müller, Bernd R. T1 - First refraction enhanced 3D computed tomography - application to metal matrix composites T2 - International Symposium on Computed Tomography and Image Processing for Industrial Radiology CY - Berlin, Germany DA - 2003-06-23 PY - 2003 AN - OPUS4-4459 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Müller, Bernd R. T1 - Synchrotron based refraction enhanced micro-CT for non-destructive characterisation of biological materials T2 - EUROMAT 2011 European Congress and Exhibition on Advanced Materials and Processes CY - Montpellier, France DA - 2011-09-12 PY - 2011 AN - OPUS4-24903 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Müller, Bernd R. T1 - X-Ray Diffraction Tomography images Materials by Molecular Probe T2 - 16th World Conference on Nondestructive Testing (WCNDT 2004) CY - Montreal, Canada DA - 2004-08-30 PY - 2004 AN - OPUS4-5575 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Müller, Bernd R. T1 - Visualization of Package Induced Deformation of Integrated Circuits T2 - 10th European Conference on Non-Destructive Testing (ECNDT) CY - Moscow, Russia DA - 2010-07-07 PY - 2010 AN - OPUS4-22865 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Müller, Bernd R. T1 - Röntgenrefraktion T2 - BAM Arbeitskreis Synchrotronstrahlung CY - Berlin, Germany DA - 2013-07-25 PY - 2013 AN - OPUS4-29176 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Müller, Bernd R. T1 - Refraction computed tomography applied to metal matrix composites materials and processing: enabling flight ... our legacy and our future T2 - 35th International SAMPE Technical Conference-2003 CY - Dayton, OH, USA DA - 2003-09-28 PY - 2003 AN - OPUS4-4460 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Müller, Bernd R. T1 - (Fast) neue Charakterisierungsmethoden für (fast) neue Werkstoffe T2 - 7. Sitzung des wissenschaftlichen Beirats der BAM CY - Berlin, Germany DA - 2013-10-15 PY - 2013 AN - OPUS4-29175 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Müller, Bernd R. T1 - Synchrotron refraction CT and synchrotron bragg magnification CT for NDE T2 - International Symposium on Digital Industrial Radiology and Computed Tomography CY - Lyon, France DA - 2007-06-25 PY - 2007 AN - OPUS4-14323 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Müller, Bernd R. T1 - Untersuchung der Integrität von glasfaserverstärkten Zahnstiften mittels Synchrotron-Röntgenrefraktion N2 - Die Integrität der Verstärkungsfasern in Komposit-Zahnstiften ist entscheidend für die Biegefestigkeit und die langfristige Haftung am Zement in den Wurzelkanälen. Es wurde vermutet, dass die Integrität von glasfaserverstärkten Zahnstiften durch das Beschleifen während der zahnmedizinischen Behandlung beeinträchtigt wird. Eine Beschädigung der Fasern führt zu einer erheblichen strukturellen Schwächung über den gesamten Stiftdurchmesser. Glasfragmente, die durch den Kontakt mit dem Zahnbohrer entstehen, können sich vom Stift lösen und die Haftfähigkeit erheblich verringern. Mit Hilfe hochauflösender Synchrotron-Röntgen-Refraktions-Radiographie (SXRR) konnte das Ausmaß der Schäden zuverlässig identifiziert und charakterisiert werden. Dazu wurden die Glasfaserstifte sowohl im Herstellungszustand als auch nach der Bearbeitung mit einem Diamantbohrer untersucht. Die Datensätze wurden zur Visualisierung und Quantifizierung der morphologischen Charakteristika intakter und durch das Beschleifen beschädigter Regionen analysiert. Sie zeigen Schäden im bearbeiteten Bereich (z. B. Brüche, Splitter und Risse) sowie herstellungsbedingte Inhomogenitäten der Fasern mit einer signifikanten Zunahme der inneren Oberflächen in Probenregionen, die durch das Beschleifen beschädigt wurden. T2 - DGZfP Jahrestagung 2022 CY - Kassel, Germany DA - 23.05.2022 KW - Röntgen-Refraktion KW - Verbundwerkstoffe KW - Zahnstifte PY - 2022 AN - OPUS4-54924 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Müller, Bernd R. T1 - X-ray refraction topography and computer tomography for NDE of light weight materials T2 - ECNDT 2006 CY - Berlin, Germany DA - 2006-09-25 PY - 2006 AN - OPUS4-12138 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Müller, Bernd R. T1 - 3D Refraction Computed Tomography Applied to Metal Matrix Composites T2 - 35th International SAMPE Technical Conference-2003 CY - Dayton, OH, USA DA - 2003-09-28 PY - 2003 AN - OPUS4-3253 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Müller, Bernd R. T1 - Röntgenrefraktometrie: Prinzipien und Anwendungen T2 - PRORA 2013 - Fachtagung Prozessnahe Röntgenanalytik CY - Berlin, Germany DA - 2013-11-21 PY - 2013 AN - OPUS4-29174 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Müller, Bernd R. T1 - Synchrotron-refraction-computed-tomography for NDT and characterisation of lightweight composite materials T2 - 4th International Conference: Emerging Technologies in Non-Destructive Testing CY - Stuttgart, Germany DA - 2007-04-02 PY - 2007 AN - OPUS4-14325 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Müller, Bernd R. T1 - Characterization of Metal Matrix Composites by Synchrotron Refraction Computed Tomography T2 - THERMEC'2009, TU Berlin CY - Berlin, Germany DA - 2009-08-25 PY - 2009 AN - OPUS4-20659 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Müller, Bernd R. T1 - Submikrometer-Computer-Tomografie an der BAMline T2 - DACH-Jahrestagung 2004: ZfP in Forschung, Entwicklung und Anwendung CY - Salzburg, Austria DA - 2004-05-17 PY - 2004 AN - OPUS4-5566 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -