TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Hertwig, Andreas A1 - Männ, Marion A1 - Weise, Matthias T1 - Ellipsometrie als Referenzverfahren: Charakterisierung von Referenzmaterialien - Validierung von Präparations- und Prüfverfahren - Qualitätssicherung für funktionelle Oberflächen T2 - 3. Workshop "Ellipsometrie" T2 - 3. Workshop "Ellipsometrie" CY - Stuttgart, Germany DA - 2004-02-23 PY - 2004 AN - OPUS4-3322 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Gamer, Nadja A1 - Reiners, Georg A1 - Hense, Eduard A1 - Arndt, Jürgen T1 - Optimierung bei Oberflächen mit Fehlstellen T2 - VDMA-Workshop, PBA-Sitzung T2 - VDMA-Workshop, PBA-Sitzung CY - Frankfurt am Main, Germany DA - 2004-06-30 PY - 2004 AN - OPUS4-3633 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Procop, Mathias A1 - Senoner, Mathias A1 - Österle, Werner A1 - Dück, Alexander A1 - Griepentrog, Michael A1 - Hertwig, Andreas T1 - Preparation, Characterisation and Certification of Reference Coatings for Surface and Thin Film Technology: BAM Certified Reference Materials T2 - 9th International Conference on Plasma Surface Engineering (PSE) T2 - 9th International Conference on Plasma Surface Engineering (PSE) CY - Garmisch-Partenkirchen, Germany DA - 2004-09-13 PY - 2004 AN - OPUS4-4185 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Hertwig, Andreas A1 - Krüger, Jörg A1 - Reiners, Georg T1 - Qualitätssicherung in der Oberflächentechnik mit optischen Verfahren T2 - AK-Plasma T2 - AK-Plasma CY - Berlin, Germany DA - 2006-05-31 PY - 2006 AN - OPUS4-12496 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe T1 - Oberflächenanalytik und Schichttechnik T2 - 12. Sitzung des AK "Korrosionsschutz durch Beschichtungen" T2 - 12. Sitzung des AK "Korrosionsschutz durch Beschichtungen" CY - Berlin, Germany DA - 2005-09-20 PY - 2005 AN - OPUS4-10873 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Hertwig, Andreas A1 - Reiners, Georg T1 - Qualitätssicherung in der Oberflächen- und Schichttechnik mit optischen Verfahren T2 - Congress Industrielle Oberflächentechnik T2 - Congress Industrielle Oberflächentechnik CY - Braunschweig, Germany DA - 2005-02-22 PY - 2005 AN - OPUS4-5605 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Reiners, Georg A1 - Sommer, K. A1 - Bobe, U. A1 - Schmidt, R. T1 - Safety of food production: Characterisation of surfaces for sterile applications T2 - PSE 2006 T2 - PSE 2006 CY - Garmisch-Partenkirchen, Germany DA - 2006-09-10 PY - 2006 AN - OPUS4-12039 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Hielscher, Stefan A1 - Kern, Janine A1 - Weise, Matthias A1 - Lange, Thorid T1 - Adhesive and Bonding Strength - Comparative Study: Conventional Tests vs. Centrifuge Technology T2 - International Workshop Dispersion Analysis T2 - International Workshop Dispersion Analysis CY - Berlin, Germany DA - 2013-03-07 PY - 2013 AN - OPUS4-28045 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Hertwig, Andreas A1 - Rosu, Dana Maria A1 - Sahre, Mario A1 - Weise, Matthias T1 - Oxides, nitrides and oxynitrides on non-silicon substrates with tailored mechanical, optical, electrical and chemical properties T2 - ICMCTF 2013 T2 - ICMCTF 2013 CY - San Diego, CA, USA DA - 2013-04-29 PY - 2013 AN - OPUS4-28506 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - CONF A1 - Beck, Uwe A1 - Hertwig, Andreas A1 - Stephanowitz, Ralph A1 - Weise, Matthias A1 - Hönig, D. A1 - Schneider, S. A1 - Domnick, R. A1 - Belzner, M. T1 - Schichtsysteme für den Marken-, Produkt- und Dokumentenschutz T2 - Plasma Germany T2 - Plasma Germany CY - Berlin, Germany DA - 2013-05-13 PY - 2013 AN - OPUS4-28507 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -