TY - JOUR A1 - Bavendiek, K. A1 - Heike, U. A1 - Kosanetzky, J.M. A1 - Ewert, Uwe A1 - Zscherpel, Uwe T1 - Best energy selection for different applications with digital detector arrays from 20 to 600 keV JF - Materials evaluation KW - ZfP KW - Radiographie KW - Bildqualität KW - Digitale Detektoren PY - 2012 SN - 0025-5327 VL - 70 IS - 8 SP - 965 EP - 974 PB - Society for Nondestructive Testing CY - Columbus, Ohio AN - OPUS4-26700 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Bavendiek, K. A1 - Zscherpel, Uwe T1 - Die Grenzen der radiographischen Prüfung - Eine neue Hochkontrastempfindlichkeitstechnik - Beispiele und systemtheoretische Analyse JF - MP materials testing N2 - In den letzten Jahren wird zunehmend über neue Prüftechniken berichtet, die den bisher verwendeten ZfP-Film durch neue digitale Detektoren ersetzen. Dabei werden verschiedene Wege beschritten, um die erforderliche Bildqualität nachzuweisen. Die Motivation zum Filmersatz besteht in einer Kostenreduktion aufgrund kürzerer Belichtungszeiten, dem Wegfall von Verbrauchsmaterialien (der Verzicht auf Entwicklerchemie hat auch ökologische Vorteile), der Verringerung von Archivierungskosten und -raum sowie der Integration in eine rechnergestützte Dokumentation. Neue Kalibrierungs- und Messvorschriften für digitale Detektor-Arrays (DDAs, auch Matrix- oder Flachdetektoren genannt) wurden entwickelt, um das maximal erreichbare Signal/Rausch-Verhältnis (SNR) von DDAs zu bestimmen. Die entwickelten Algorithmen erlauben eine neue Hochkontrastempfindlichkeitstechnik, die eine Kontrastempfindlichkeit von bis zu 1/1000 der durchstrahlten Wanddicke ergibt. Standard-Radiographie mit den besten ZfP-Filmen (Filmklasse C1 nach EN 584-1) ist auf eine Kontrastempfindlichkeit von max. 1/100 der Wanddicke begrenzt. Die erzielbaren Bildqualitäten von ZfPFilm und DDAs werden anhand einer Testschweißnaht verglichen. KW - Zerstörungsfreie Prüfung KW - Radiographie KW - Digitale Detektoren KW - Grenzen der Bildqualität PY - 2007 SN - 0025-5300 VL - 49 IS - 11-12 SP - 610 EP - 616 PB - Hanser CY - München AN - OPUS4-16067 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER - TY - JOUR A1 - Ewert, Uwe A1 - Zscherpel, Uwe A1 - Heyne, Klara A1 - Jechow, Mirko A1 - Bavendiek, K. T1 - Image quality in digital industrial radiography JF - Materials evaluation KW - ZfP KW - Radiographie KW - Bildqualität KW - Digitale Detektoren PY - 2012 SN - 0025-5327 VL - 70 IS - 8 SP - 955 EP - 964 PB - Society for Nondestructive Testing CY - Columbus, Ohio AN - OPUS4-26699 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -