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    <issue>Kap. 31</issue>
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    <publisherPlace>Düsseldorf</publisherPlace>
    <creatingCorporation>VDI Wissensforum GmbH</creatingCorporation>
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    <title language="deu">Messunsicherheit, Kalibrierung und Normale zur zuverlässigen Rückführung der dimensionell messenden Computertomographie (CT)</title>
    <parentTitle language="deu">4. VDI-Fachtagung Messunsicherheit - Messunsicherheit praxisgerecht bestimmen, 12.- 13.11.2008, Erfurt</parentTitle>
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    <identifier type="isbn">978-3-98-12624-1-4</identifier>
    <enrichment key="bibliotheksstandort">Sonderstandort: Publica-Schrank</enrichment>
    <enrichment key="eventName">4. VDI-Fachtagung Messunsicherheit - Messunsicherheit praxisgerecht bestimmen</enrichment>
    <enrichment key="eventPlace">Erfurt, Deutschland</enrichment>
    <enrichment key="eventStart">0208-11-12</enrichment>
    <enrichment key="eventEnd">2008-11-13</enrichment>
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    <author>U. Hilpert</author>
    <author>F. Härtig</author>
    <author>M. Bartscher</author>
    <author>Karsten Ehrig</author>
    <author>Andreas Staude</author>
    <author>Jürgen Goebbels</author>
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    <collection role="fulltextaccess" number="">Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access")</collection>
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