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    <title language="deu">Gemeinsamer Abschlussbericht WIPANO-Vorhaben „Standardisierung und Normung der Ellipsometrie als universeller Spektroskopie“</title>
    <abstract language="deu">Im Vorhaben SNELLIUS wurden in enger Zusammenarbeit der BAM mit den Firmen Accurion und SENTECH Instruments aufbauend auf der Norm DIN 50989-1 „Ellipsometrie - Teil 1: Grundlagen; Ellipsometry – Part 1: Principles“ insgesamt fünf Normenentwürfe erarbeitet, die fünf Modell-basierten Anwendungsfällen der Ellipsometrie entsprechen. Unter Berücksichtigung des neuartigen Modell-basierten Normungskonzepts wurde in den Normenentwürfen erstmals eine GUM- und DIN EN ISO/IEC 17025:2018 konforme Bestimmung bzw. Abschätzung der Messunsicherheit umgesetzt. Dies erforderte neben der textlichen Erstellung auch umfangreiche experimentelle Arbeiten bei den Firmen, Vergleichsversuche und komplementäre Modell- und Datenevaluierungen, da sowohl die verwendete ellipsometrische Hardware (unterschiedliche ellipsometrische Funktionsprinzipien) als auch die ellipsometrische Software (Modell-Randbedingungen, Fitalgorithmus) firmenspezifisch zum Teil sehr unterschiedlich sind. Hierbei mussten in einem Konsensprozess Lösungen gefunden werden, die die beiden deutschen Ellipsometer-Anbieter Accurion (Imaging-Ellipsometrie) und SENTECH Instruments (Mapping Ellipsometrie) gleichermaßen akzeptieren konnten und die zudem einen Transfer auf die Internationale Ebene (ISO Norm) ermöglichen, also vom Grundsatz her auch auf weitere Ellipsometerhersteller wie (J. A. Woollam Co., USA; SEMILAB, Ungarn; HORIBA, Japan) mit wieder anderen ellipsometrischen Funktionsprinzipien, Hard- und Softwarelösungen anwendbar sind. Die weitgehende Unabhängigkeit von ellipsometrischen Funktionsprinzipien, Hard- und Softwarelösungen wurde dadurch erreicht, dass normativ festgelegt wurde, dass die ellipsometrischen Größen PSI und DELTA im Sinne von DIN ENISO/IEC 17025 als Rohdaten fungieren.</abstract>
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    <author>Uwe Beck</author>
    <author>Elena Ermilova</author>
    <author>S. Schneider</author>
    <author>S. Peters</author>
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      <value>Ellipsometrie-Norm</value>
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      <value>Messunsicherheit ellipsometrischer Messungen</value>
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      <value>DIN 50989, Teile 1 bis 6</value>
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      <value>DIN EN ISO/IEC 17025:2018 und GUM Kompatibilität</value>
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    <collection role="ddc" number="543">Analytische Chemie</collection>
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    <title language="deu">Sustainability analysis for the recycling of masonry</title>
    <parentTitle language="deu">CESB 13 - 3rd International conference Central Europe towards sustainable building 2013 - Sustainable building and refurbishment for next generations</parentTitle>
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    <enrichment key="eventPlace">Prague, Czech Republic</enrichment>
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    <author>Tristan Herbst</author>
    <author>S. Schneider</author>
    <author>L. Prediger</author>
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      <value>Recycling</value>
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    <collection role="fulltextaccess" number="">Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access")</collection>
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    <publishedYear>2013</publishedYear>
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    <publisherName>Bauhaus-Univ.</publisherName>
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    <creatingCorporation>Aufbereitung von Baustoffen und Wiederverwertung e.V. (ABW)</creatingCorporation>
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    <title language="deu">Stoffkreislauf im Mauerwerksbau - Nachhaltigkeitsanalyse für das Mauerwerksrecycling</title>
    <abstract language="deu">In Deutschland fallen nach Abschätzungen von jährlich bis zu 10 Millionen Tonnen Mauerwerkbruch an. Im Sinne einer nachhaltigen Kreislaufwirtschaft sind diese Restmassen zukünftig einem möglichst hochwertigen und individuell angepassten Recycling zuzuführen. Vor diesem Hintergrund wurde im IGF-Forschungsvorhaben 17022 N der Forschungsvereinigung Porenbetonindustrie e.V. die Nachhaltigkeit verschiedener Recyclingoptionen für Mauerwerkbruch ganzheitlich untersucht. Unter Einbeziehung der Hauptmauersteinarten Ziegel, Kalksandstein, Porenbeton und Leichtbeton wurden dabei material- und verfahrenstechnische sowie ökologische, ökonomische und soziale Aspekte berücksichtigt.&#13;
Als Ergebnis wurde ein EDV-gestütztes Analysetool (Web-Tool) zur Nachhaltigkeitsbewertung für das Mauerwerksrecycling entwickelt. Mit dem Web-Tool sollen Anwender (Planer, Architekten, Recycler) die Möglichkeit erhalten, für verschiedene Untersuchungsfälle unter Einbeziehung regional und sachlich bedingter Parameter objektspezifische Aussagen zur Nachhaltigkeit treffen zu können. Auf diesem Wege können im Sinne der aktuellen gesetzlichen Vorgaben nachhaltige Stoffkreisläufe im Mauerwerksbau geschlossen und somit letztlich die Deponierung von Mauerwerksrestmassen reduziert oder gar vermieden werden.</abstract>
    <parentTitle language="deu">R'13 - Fachtagung Recycling (Proceedings)</parentTitle>
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    <enrichment key="eventName">R'13 - Fachtagung Recycling</enrichment>
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    <author>Tristan Herbst</author>
    <author>S. Schneider</author>
    <author>C.P. Brandstetter</author>
    <author>G. Flassenberg</author>
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    <title language="eng">Single Femtosecond Laser-Pulse-Induced Superficial Amorphization and Re-Crystallization of Silicon</title>
    <abstract language="eng">Superficial amorphization and re-crystallization of silicon in &lt;111&gt; and &lt;100&gt; orientation after irradiation by femtosecond laser pulses (790 nm, 30 fs) are studied using optical imaging and transmission electron microscopy. Spectroscopic imaging ellipsometry (SIE) allows fast data acquisition at multiple wavelengths and provides experimental data for calculating nanometric amorphous layer thickness profiles with micrometric lateral resolution based on a thin-film layer model. For a radially Gaussian laser beam and at moderate peak fluences above the melting and below the ablation thresholds, laterally parabolic amorphous layer profiles with maximum thicknesses of several tens of nanometers were quantitatively attained. The accuracy of the calculations is verified experimentally by high-resolution transmission electron microscopy (HRTEM) and energy dispersive X-ray spectroscopy (STEM-EDX). Along with topographic information obtained by atomic force microscopy (AFM), a comprehensive picture of the superficial re-solidification of silicon after local melting by femtosecond laser pulses is drawn.</abstract>
    <parentTitle language="eng">Materials</parentTitle>
    <identifier type="issn">1996-1944</identifier>
    <identifier type="url">https://www.mdpi.com/1996-1944/14/7/1651</identifier>
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    <identifier type="urn">urn:nbn:de:kobv:b43-523687</identifier>
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    <licence>Creative Commons - CC BY - Namensnennung 4.0 International</licence>
    <author>Camilo Florian</author>
    <author>Daniel Fischer</author>
    <author>K. Freiberg</author>
    <author>M. Duwe</author>
    <author>Mario Sahre</author>
    <author>S. Schneider</author>
    <author>Andreas Hertwig</author>
    <author>Jörg Krüger</author>
    <author>M. Rettenmayr</author>
    <author>Uwe Beck</author>
    <author>A. Undisz</author>
    <author>Jörn Bonse</author>
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      <value>Femtosecond laser</value>
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      <value>Silicon</value>
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    <collection role="ddc" number="620">Ingenieurwissenschaften und zugeordnete Tätigkeiten</collection>
    <collection role="ddc" number="621">Angewandte Physik</collection>
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    <collection role="unnumberedseries" number="">Wissenschaftliche Artikel der BAM</collection>
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    <thesisPublisher>Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)</thesisPublisher>
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    <publishedYear>2013</publishedYear>
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    <title language="deu">Stoffkreislauf im Mauerwerksbau - Nachhaltigkeitsanalyse für das Mauerwerksrecycling / Schlussbericht zum IGF-Vorhaben 17022 N</title>
    <abstract language="deu">In Deutschland fallen mittelfristig erhebliche Mengen von Mauerwerkbruch an. Aus dem jährlichen Bauschuttanfall und den Produktionszahlen von Wandbausteinen lassen sich die Mengen an Mauerwerksrestmassen ableiten, die als Rückbaumaterial bei Abriss-, Umbau und Sanierungsarbeiten in Deutschland anfallen werden. Hiernach ist pro Jahr mit bis zu 10 Millionen Tonnen heute vornehmlich heterogen anfallendem Mauerwerkbruch zu rechnen [1a]. Im Sinne einer nachhaltigen Kreislaufwirtschaft sind diese Restmassen zukünftig einem möglichst hochwertigen Recycling zuzuführen. In diesem Spannungsfeld führt die deutsche Mauersteinindustrie das breit aufgestellte gemeinschaftliche Forschungsprojekt "SIM Stoffkreislauf im Mauerwerksbau" durch. In insgesamt acht mauersteinübergreifenden IGFForschungsvorhaben wurden und werden technisch orientierte Lösungsmöglichkeiten für das Recycling von Mauerwerk erarbeitet und Anwendungsbereiche für Mauerwerksrestmassen aufgezeigt. Eine grundsätzliche Entscheidung über die Eignung von Mauerwerksrestmassen für bestimmte Recyclingwege kann es letztlich nicht geben. Es wird immer eine Einzelfallentscheidung bleiben, die wesentlich durch komplexe technische sowie ökologische und ökonomische Randbedingungen geprägt wird.&#13;
Vor diesem Hintergrund wurde im Rahmen des IGF-Forschungsvorhabens 17022 N der Forschungsvereinigung Porenbetonindustrie e.V., Berlin die Nachhaltigkeit verschiedener Recyclingoptionen für Mauerwerkbruch ganzheitlich untersucht und bewertet. Unter Einbeziehung der Hauptwandbausteinarten Ziegel, Kalksandstein, Porenbeton und Leichtbeton wurden dabei material- und verfahrenstechnische sowie ökologische, ökonomische und soziale Aspekte berücksichtigt. Auf Grundlage der gewonnenen Erkenntnisse wurde ein EDV-gestütztes Analysetool (Web-Tool) zur Nachhaltigkeitsbewertung für das Mauerwerksrecycling entwickelt. Mit dem Web-Tool sollen Anwender (Planer, Architekten, Recycler) die Möglichkeit erhalten, für verschiedene Untersuchungsfälle unter Einbeziehung regional und sachlich bedingter Parameter, wie Materialqualität, Stoffmengen, Logistik, Aufbereitungstechnik, Anwendungsbereiche, Kosten und Erlöse, objektspezifische Aussagen zur Nachhaltigkeit treffen zu können. Auf diesem Wege können im Sinne der aktuellen gesetzlichen Vorgaben nachhaltige Stoffkreisläufe im Mauerwerksbau geschlossen und somit letztlich die Deponierung von Mauerwerksrestmassen vermieden werden.&#13;
Alle vier Wandbaustoffarten haben sich im Rahmen des Forschungsvorhabens als recyclingfähig und hinsichtlich der Nachhaltigkeit als gleichwertig erwiesen. Das Ziel des Vorhabens wurde damit erreicht.</abstract>
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    <identifier type="urn">urn:nbn:de:kobv:b43-288572</identifier>
    <licence>Allgemeines Deutsches Urheberrecht</licence>
    <author>Katrin Rübner</author>
    <author>S. Schneider</author>
    <author>T. Beck</author>
    <author>G. Flassenberg</author>
    <author>Tristan Herbst</author>
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      <value>Nachhaltigkeit</value>
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      <value>Mauerwerkbruch</value>
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    <collection role="ddc" number="620">Ingenieurwissenschaften und zugeordnete Tätigkeiten</collection>
    <collection role="fulltextaccess" number="">Datei für die Öffentlichkeit verfügbar ("Open Access")</collection>
    <collection role="literaturgattung" number="">Graue Literatur</collection>
    <collection role="unnumberedseries" number="">BAM Forschungsberichte ohne Nummerierung</collection>
    <thesisPublisher>Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)</thesisPublisher>
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    <title language="deu">Ellipsometrische Codierung &amp; Fabry-Perot Schichtsysteme mit offenen, versteckten und forensischen Merkmalen zur Produkt-Authentifizierung</title>
    <parentTitle language="deu">3. Internationaler Kongress - Sichere Identität</parentTitle>
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    <enrichment key="eventStart">2011-04-05</enrichment>
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    <author>D. Hönig</author>
    <author>S. Schneider</author>
    <author>R. Domnick</author>
    <author>M. Belzner</author>
    <author>Uwe Beck</author>
    <author>Andreas Hertwig</author>
    <author>Ralph Stephanowitz</author>
    <author>Matthias Weise</author>
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      <value>Fabry-Perot layer stacks</value>
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      <value>Product authentification</value>
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    <collection role="literaturgattung" number="">Graue Literatur</collection>
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    <publishedYear>2012</publishedYear>
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    <title language="eng">Fabry-Perot-based layer stacks for ellipsometric encoding - Embedded public, hidden, and forensic information for product authentication</title>
    <abstract language="eng">Public, hidden, and forensic features either encoded or directly legible are used for authentication. Fabry-Perot layer stacks as information carriers in combination with imaging ellipsometry as optical read-out system provide all-in-one anti-counterfeiting capability that may establish the new security level 'encoded forensic'. Different layer designs are described with regard to all three security levels: public features (e.g. color and tilt effect) perceptible by the human eye, hidden features (e.g. spectroscopic response in the UV or IR), and forensic features (ellipsometric quantities Ψ and Δ as a function of wavelength λ and angle of incidence AOI). Physically uncloneable functions (PUF) could be realized as a result of a multi-material and a multi-parameter deposition approach as well as by means of specific design features of the Fabry-Perot layer stack. Hence, they are not subject to any reverse engineering strategies. Examples of stratified, micro-structured, and laser-modified Fabry-Perot layer systems are considered that may be used at all perception levels (e.g. human eye, bar code reader, and imaging ellipsometry) for authentication against product counterfeiting and related areas. --------------------------------------------------------------------------------------------------------------------&#13;
Zur Authentifizierung werden offene, versteckte und forensische Merkmale entweder codiert oder direkt auslesbar verwendet. Mit Fabry-Perot Schichtsystemen als Informationsträger in Kombination mit der abbildenden Ellipsometrie als optischem Auslesesystem steht ein 'all-in-one' Fälschungsschutz-System zur Verfügung, das ein neues Sicherheitsniveau 'kodiert-forensisch' darstellt. Es werden unterschiedliche Schichtdesigns beschrieben, mit denen alle drei Sicherheitsniveaus realisiert werden können: offene Merkmale (z.B. Farbe und Kippeffekt), die mit dem menschlichen Auge wahrnehmbar sind, versteckte Merkmale (z.B. die spektrale Antwort im Sichtbaren oder im IR) sowie forensische Merkmale (ellipsometrische Größen Ψ und Δ als Funktion der Wellenlänge λ und des Einfallswinkels AOI).&#13;
Physikalisch nicht klonbare Funktionen (PUF) können im Ergebnis einer Multi-Material- und Multi-Parameter Beschichtungsstrategie sowie durch spezifische Design-Merkmale des Fabry-Perot Schichtsystems realisiert werden. Folglich sind solche Schichtsysteme dem 'reverse engineering' nicht zugänglich. Es werden Beispiele für lateral ausgedehnte, mikrostrukturierte und Laser modifizierte Schichtsysteme auf verschiedenen Ausleseniveaus (menschliches Auge, Barcode-Lesegerät, abbildendes Ellipsometer) vorgestellt, die zur Authentifizierung von Produkten und verwandte Gebiete geeignet sind.</abstract>
    <parentTitle language="deu">Vakuum in Forschung und Praxis</parentTitle>
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    <identifier type="doi">10.1002/vipr.201200494</identifier>
    <identifier type="issn">0947-076X</identifier>
    <identifier type="issn">1522-2454</identifier>
    <author>Uwe Beck</author>
    <author>D. Hönig</author>
    <author>S. Schneider</author>
    <author>R. Domnick</author>
    <author>M. Belzner</author>
    <author>Andreas Hertwig</author>
    <author>Ralph Stephanowitz</author>
    <author>Mario Sahre</author>
    <author>Matthias Weise</author>
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      <language>eng</language>
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      <value>Fabry-Perot Schichten</value>
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    <title language="deu">Sustainability assessment for the recycling of masonry</title>
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    <author>S. Schneider</author>
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    <title language="deu">SIM Stoffkreislauf im Mauerwerksbau - Nachhaltigkeitsanalyse für das Mauerwerksrecycling</title>
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    <author>Tristan Herbst</author>
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    <title language="eng">Optical layer systems for product authentication: interference, scattering, light diffusion and ellipsometric encoding as public, hidden and forensic security features</title>
    <abstract language="eng">Embedding of information on surfaces is state of the art for identification testing in which public, hidden and forensic features are used. In many instances, the legal authentication of a product, a material or a document is required. Among the surface-based encoded labels, bar codes and data matrices are most frequently applied. They are publicly visible. The material itself is irrelevant, only a sufficient optical contrast is required.&#13;
However, a strong material dependence of the label can be achieved by means of Fabry-Perot layer stacks. Stack designs are described with regard to all three security levels: public features (e.g. color and tilt effect) perceptible by the human eye, hidden features (e.g. optical response in a given spectral range) detectable by commonly available instruments and forensic features (ellipsometric quantities Ψ and Δ as a function of wavelength λ and angle of incidence AOI) only detectable by sophisticated instruments.&#13;
Regarding material-correlated authentication, ellipsometric quantities Ψ and Δ are used as encoded forensic features for the first time. Hence, Fabry-Perot layer stacks as information carriers in combination with imaging ellipsometry as optical read-out system provide all-in-one anti-counterfeiting capabilities.</abstract>
    <parentTitle language="eng">PSE 2012 - 13th International conference on plasma surface engineering</parentTitle>
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    <author>D. Hönig</author>
    <author>S. Schneider</author>
    <author>R. Domnick</author>
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    <author>Uwe Beck</author>
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      <value>Anti-counterfeiting</value>
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    <issue>Kap. 2.2.7</issue>
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    <title language="deu">Nachhaltigkeitsanalyse für das Mauerwerksrecycling</title>
    <parentTitle language="deu">Mauerwerk-Kalender 2013</parentTitle>
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    <identifier type="isbn">978-3-433-60296-6</identifier>
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    <author>Tristan Herbst</author>
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