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    <publishedYear>2020</publishedYear>
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    <publisherName>Verein Deutscher Ingenieure (VDI)</publisherName>
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    <creatingCorporation>VDI/VDE-Gesellschaft Mess- und Automatisierungstechnik</creatingCorporation>
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    <title language="deu">Terahertzsysteme und Anwendungsfelder</title>
    <abstract language="deu">Der Frequenzbereich der Terahertzwellen liegt im elektromagnetischen Spektrum zwischen den Mikrowellen und dem infraroten Licht – also etwa im Bereich von 0,1 bis 10 Terahertz (THz). Der VDI-Statusreport „Terahertzsysteme und Anwendungen“ stellt die unterschiedlichen Konzepte für Terahertzsysteme vor und zeigt Anwendungsbeispiele, bei denen die Terahertztechnik erfolgreich eingesetzt wird. Umfangreiche Literaturangaben ermöglichen eine intensivere Beschäftigung mit allen Themen des VDI-Statusreports.</abstract>
    <parentTitle language="deu">VDI-Statusreport</parentTitle>
    <identifier type="url">https://www.vdi.de/ueber-uns/presse/publikationen/details/terahertzsysteme-und-anwendungsfelder</identifier>
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    <author>S. Becker</author>
    <author>Jörg Beckmann</author>
    <author>M.-T. Braun</author>
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    <author>B. Fischer</author>
    <author>F. Friederich</author>
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    <author>H.-W. Hübers</author>
    <author>J. Jelonnek</author>
    <author>J. Jonuscheit</author>
    <author>A. Keil</author>
    <author>T. Kleine-Ostmann</author>
    <author>E. Marquardt</author>
    <author>M. Mayr</author>
    <author>H.-U. Nickel</author>
    <author>D. Nüßler</author>
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    <author>J. Schür</author>
    <author>T. Sprenger</author>
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    <author>S. van Frank</author>
    <author>N. Vieweg</author>
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      <value>Terahertzsysteme</value>
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    <collection role="ddc" number="543">Analytische Chemie</collection>
    <collection role="institutes" number="">8 Zerstörungsfreie Prüfung</collection>
    <collection role="themenfelder" number="">Chemie und Prozesstechnik</collection>
    <collection role="literaturgattung" number="">Verlagsliteratur</collection>
    <collection role="fulltextaccess" number="">Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")</collection>
    <collection role="institutes" number="">8.0 Abteilungsleitung und andere</collection>
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    <id>51947</id>
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    <publishedYear>2020</publishedYear>
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    <edition>Entwurf - Oktober 2020</edition>
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    <volume>VDI/VDE 5590 Blatt 2</volume>
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    <publisherName>VDI-Verlag</publisherName>
    <publisherPlace>Düsseldorf</publisherPlace>
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    <title language="deu">Terahertzsysteme - Zeitbereichsspektrometer (TDS-Systeme)</title>
    <abstract language="deu">Diese Richtlinie definiert Kenngrößen und Messverfahren, um Terahertzsysteme für die Zeitbereichsspektroskopie (TDS)zu spezifizieren. So können Hersteller ihre Systeme übereinstimmend beschreiben und Anwender einfach Systeme vergleichen. Systeme für die Terahertz-Zeitbereichsspektroskopie sind aktive Systeme und nutzen verschiedene Techniken sowohl zur Erzeugung als auch zur zeitaufgelösten Messung von breitbandigen Terahertzimpulsen. Die dazugehörigen Terahertzspektren und -Phasen werden nach einer zeitlichen Abtastung über eine Fourier-Transformation berechnet. In dieser Richtlinie wird ein Überblick über die Funktionsweisen von Zeitbereichsspektrometern gegeben, die eingesetzten Messverfahren näher erläutert sowie die benötigten Begriffe und Kenngrößen definiert. Die Richtlinie konzentriert sich dabei auf Systeme, die auf sogenannten Abtastmessverfahren (Sampling-Messverfahren) basieren.</abstract>
    <parentTitle language="deu">VDI/VDE-Richtlinie</parentTitle>
    <identifier type="url">https://www.vdi.de/5590</identifier>
    <author>S. Becker</author>
    <author>Jörg Beckmann</author>
    <author>O. Cojocari</author>
    <author>V. Feige</author>
    <author>B. Fischer</author>
    <author>F. Friederich</author>
    <author>B. Globisch</author>
    <author>G. Hechtfischer</author>
    <author>K. Hens</author>
    <author>H.-W. Hübers</author>
    <author>J. Jelonnek</author>
    <author>J. Jonuscheit</author>
    <author>A. Keil</author>
    <author>T. Kleine-Ostmann</author>
    <author>M. Mayr</author>
    <author>D. Nüßler</author>
    <author>M. Peichl</author>
    <author>O. Peters</author>
    <author>J. Schür</author>
    <author>T. Sprenger</author>
    <author>A. Steiger</author>
    <author>S. van Frank</author>
    <author>N. Vieweg</author>
    <author>R. Wilk</author>
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      <value>TDS-Systeme</value>
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    <collection role="ddc" number="543">Analytische Chemie</collection>
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    <collection role="fulltextaccess" number="">Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access")</collection>
    <collection role="institutes" number="">8.0 Abteilungsleitung und andere</collection>
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    <id>46727</id>
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    <publishedYear>2018</publishedYear>
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    <edition>Entwurf - November 2018</edition>
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    <volume>VDI/VDE 5590 Blatt 2</volume>
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    <publisherName>VDI-Verlag</publisherName>
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    <title language="deu">Terahertzsysteme - Anwendungsfelder und Systeme</title>
    <abstract language="deu">Die nicht ionisierende elektromagnetische Strahlung im Bereich von Terahertz-Frequenzen ermöglicht berührungslose und zerstörungsfreie Mess- und Prüftechnik in zahlreichen Bereichen. Nach ersten Anwendungen in der Astronomie und der Atmosphärenforschung wurden in letzter Zeit Anwendungsfelder in der Sicherheitstechnik, der Medizintechnik, der Nachrichtentechnik und der zerstörungsfreien Prozess- und Qualitätskontrolle erschlossen. Dielektrische Materialien wie Kunststoffe und Keramiken können von Terahertz-Wellen durchdrungen werden. Das ermöglicht Untersuchungen des Objektinneren ohne spezielle Schutzmaßnahmen, wie sie z.B. beim Röntgen notwendig sind. Die Richtlinie erleichtert die Verständigung zwischen Nutzern, Herstellern und dem Vertrieb von Terahertz-Systemen. In der Richtlinie werden bekannte Einsatzgebiete sowie die eingesetzten Verfahren und Funktionsprinzipien aufgeführt, um den Leser bei der Auswahlentscheidung zu unterstützen. Nach einer kurzen Einführung in die physikalischen Grundlagen und Hinweisen zur elektromagnetischen Verträglichkeit, zum Strahlenschutz und zur regulierten Frequenzvergabe werden die verschiedenen Geräteklassen von Terahertz-Systemen ausführlich vorgestellt. Die Richtlinie gibt Hinweise zur messtechnischen Charakterisierung von Terahertz-Wellen. Einsatzgebiete von Terahertz-Systemen, wie die zerstörungsfreie Prüfung, die Dicken- und Abstandsmessung, die Tomografie und die chemische Analytik, werden mit ihren spezifischen Eigenschaften im Detail beschrieben. Umfangreiche Literaturverweise vereinfachen eine vertiefte Beschäftigung mit den Themen der Richtlinie. Eine tabellarische Übersicht mit einer Zusammenfassung, welche Terahertz-Systeme für welche Anwendungsfelder eingesetzt werden können, vervollständigt die Richtlinie.</abstract>
    <parentTitle language="deu">VDI/VDE-Richtlinie</parentTitle>
    <identifier type="url">https://www.vdi.de/5590</identifier>
    <author>M. Beck</author>
    <author>S. Becker</author>
    <author>Jörg Beckmann</author>
    <author>O. Cojocari</author>
    <author>V. Feige</author>
    <author>B. Fischer</author>
    <author>F. Friederich</author>
    <author>B. Globisch</author>
    <author>H. Haupt</author>
    <author>G. Hechtfischer</author>
    <author>K. Hens</author>
    <author>H.-W. Hübers</author>
    <author>J. Jelonnek</author>
    <author>J. Jonuscheit</author>
    <author>A. Keil</author>
    <author>T. Kleine-Ostmann</author>
    <author>H.-U. Nickel</author>
    <author>M. Peichl</author>
    <author>O. Peters</author>
    <author>T. Sprenger</author>
    <author>A. Steiger</author>
    <author>S. van Frank</author>
    <author>N. Vieweg</author>
    <author>M. Werner</author>
    <author>R. Wilk</author>
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      <language>deu</language>
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      <value>Terahertzsysteme</value>
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      <value>THz-Wellen</value>
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