Dokument-ID Dokumenttyp Autoren/innen Persönliche Herausgeber/innen Haupttitel Abstract Auflage Verlagsort Verlag Herausgeber (Institution) Erscheinungsjahr Titel des übergeordneten Werkes Jahrgang/Band ISBN Veranstaltung Veranstaltungsort Beginndatum der Veranstaltung Enddatum der Veranstaltung Ausgabe/Heft Erste Seite Letzte Seite URN DOI Lizenz Datum der Freischaltung OPUS4-51888 Forschungsdatensatz Kowarik, Stefan; Pithan, L. kowarik-labs/AI-reflectivity: v0.1 AI-reflectivity is a code based on artificial neural networks trained with simulated reflectivity data that quickly predicts film parameters from experimental X-ray reflectivity curves. This project has a common root with (ML-reflectivity)[https://github.com/schreiber-lab/ML-reflectivity] and evolved in parallel. Both are linked to the following publication: Fast Fitting of Reflectivity Data of Growing Thin Films Using Neural Networks A. Greco, V. Starostin, C. Karapanagiotis, A. Hinderhofer, A. Gerlach, L. Pithan, S. Liehr, F. Schreiber, S. Kowarik (2019). J. Appl. Cryst. For an online live demonstration using a pre-trained network have a look at github. Geneva Zenodo Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM) 2019 10.5281/zenodo.3477583 https://opensource.org/licenses/GPL-3.0 2020-12-21