Dokument-ID Dokumenttyp Autoren/innen Persönliche Herausgeber/innen Haupttitel Abstract Auflage Verlagsort Verlag Herausgeber (Institution) Erscheinungsjahr Titel des übergeordneten Werkes Jahrgang/Band ISBN Veranstaltung Veranstaltungsort Beginndatum der Veranstaltung Enddatum der Veranstaltung Ausgabe/Heft Erste Seite Letzte Seite URN DOI Lizenz Datum der Freischaltung OPUS4-51907 Forschungsdatensatz Winkelmann, A.; Britton, T. B.; Nolze, Gert EBSD Kikuchi Pattern Analysis, Silicon 15kV Supplementary data and images for Si EBSD pattern analysis as presented in: A. Winkelmann, T.B. Britton, G. Nolze "Constraints on the effective electron energy spectrum in backscatter Kikuchi diffraction", Physical Review B (2019). Geneva Zenodo Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM) 2019 10.5281/zenodo.2565061 https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/deed.de 2020-12-21