TY - CONF A1 - Hentschel, Manfred P. T1 - Microriss-Charakterisierung mittels Röntgen-Refractions-Topographie T2 - DGZfP-Jahrestagung: ZfP in Anwendung, Entwicklung und Forschung T2 - DGZfP-Jahrestagung: ZfP in Anwendung, Entwicklung und Forschung CY - Weimar, Germany DA - 2005-05-06 PY - 2005 AN - OPUS4-7482 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -