TY - JOUR A1 - Sturm, Heinz A1 - Schulz, Eckhard T1 - Rasterkraftmikroskopie mit lokalem Leitfähigkeitskontrast zur Oberflächenanalyse von Kohlefaseroberflächen und plasmapolymerisierten dünnen Schichten T2 - Beiträge zur elektronenmikroskopischen Direktabbildung von Oberflächen PB - Remy CY - Münster, Westf. PY - 1995 UR - https://opus4.kobv.de/opus4-bam/frontdoor/index/index/docId/6847 AN - OPUS4-6847 SN - 0340-3815 VL - 28 SP - 51 EP - 58 AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany