TY - CONF A1 - Procop, Mathias T1 - Schichtdickenbestimmung für Nanometer-Kalibriernormale mittels XRF T2 - 2. Seminar zur Nutzung des Wellenlängenschieber-Messplatzes bei BESSY II T2 - 2. Seminar zur Nutzung des Wellenlängenschieber-Messplatzes bei BESSY II CY - Berlin, Germany DA - 2001-11-08 PY - 2001 AN - OPUS4-6163 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -