TY - CONF A1 - Sturm, Heinz T1 - Scanning Probe Microscopy Techniques for the Examination of Nanomechanics - a study of Topography, AC Conductivity and Surface Stiffness T2 - Raster-Sonden-Mikroskopien und organische Materialien VII T2 - Raster-Sonden-Mikroskopien und organische Materialien VII CY - Berlin, Germany DA - 1998-10-08 PY - 1998 AN - OPUS4-6448 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -