TY - CONF A1 - Bernegger, Raphael A1 - Altenburg, Simon A1 - Maierhofer, Christiane T1 - Analytisches Modell zur Bestimmung der Schichtdicke für opake und semitransparente Materialien mittels Impulsthermografie N2 - Impulsthermografie ist ein bekanntes zerstörungsfreies Prüfverfahren, welches sehr gut geeignet ist, um geometrische Eigenschaften von Materialfehler, thermische Materialparameter sowie die Dicke von Objekten zu bestimmen. Die Anwendung auf semitransparente Materialien ist jedoch recht neu und anspruchsvoll, insbesondere für semitransparente Mehrschichtmaterialien wie glasfaserverstärkte Kunststoffe (GFK). Um die Dicke beschichteter und unbeschichteter semitransparenten Proben mittels Impuls-Thermografie bestimmen zu können, verwenden wir ein analytisches Modell, welches auf der Quadrupol-Methode basiert. Unser 1D-Modell berücksichtigt: • die Semitransparenz der Probe, • die Wärmeverluste an den Seitenflächen, • beliebige zeitlichen Form des Heizimpulses (um die Messbedingungen für verschiedene Wärmequellen korrekt zu beschreiben), • mögliche Flächenabsorption an der Vorder- oder Rückseite (für beschichtete Proben), • und Mehrschichtsysteme. Durch Anpassung der Ergebnisse des analytischen Modells an experimentelle Daten ist es möglich, die Dicke der Probe zu bestimmen, sofern die thermischen Materialparameter bekannt sind. Diese können z.B. durch Kalibrierungsmessungen an Proben desselben Materials mit bekannter Dicke bestimmt werden. T2 - Physikalisch-Technische Bundesanstalt CY - Berlin, Germany DA - 06.12.2017 KW - Schichtdicke KW - Analytisches Modell KW - Impulsthermografie KW - 1D-Modell KW - Semitransparent PY - 2017 AN - OPUS4-43410 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -