TY - CONF A1 - Völker, Christoph A1 - Bock, Kilian A1 - Benner, Philipp A1 - Bettge, Dirk T1 - Explore and Exploit - Strategische Erweiterung der fraktographischen Datenbank mit Machine Learning N2 - In diesem Vortrag stellen wir den aktuellen Stand zu einer Masterarbeit zusammen die sich mit dem Thema beschäftigt wie die Generalisierbarkeit von Datenmodellen auf Basis kleiner Datensätze erhöht werden kann. Wir stellen vor, wie die Datenbasis eines fraktogafischen Bildklassifizierers mit einem statistischen Model strategische erweitert, bzw. an eine Anwendung angepasst werden kann. T2 - AG Fraktographie im DVM/DGM Gemeinschaftsausschuss „Rasterelektronenmikroskopie in der Materialprüfung“ CY - Online meeting DA - 20.11.2020 KW - Bild Klassifizierung KW - Small Data KW - Unsicherheitsberechnung KW - Erklärbare KI PY - 2020 AN - OPUS4-51810 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -