TY - CONF A1 - Sturm, Heinz T1 - Lithographie, Manipulation und Analyse in ESEM und AFM T2 - Evaluierungsmeeting eines zukünftigen DFG-Forscherverbundes zum Thema "Nanoröhren und -drähte" T2 - Evaluierungsmeeting eines zukünftigen DFG-Forscherverbundes zum Thema "Nanoröhren und -drähte" CY - Halle (Saale), Germany DA - 2003-01-17 PY - 2003 AN - OPUS4-2915 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -