TY - CONF A1 - Schulz, Eckhard A1 - Munz, Martin A1 - Sturm, Heinz A1 - Hinrichsen, G. T1 - "Displacement Modulation" mit kontrollierter Kontaktdeformation T2 - Raster-Sonden-Mikroskopien und organische Materialien VI T2 - Raster-Sonden-Mikroskopien und organische Materialien VI CY - Tübingen, Germany DA - 1997-10-10 PY - 1997 AN - OPUS4-6437 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -