TY - CONF A1 - Onel, Yener A1 - Illerhaus, Bernhard A1 - Goebbels, Jürgen T1 - 320kV Microfokusröntgenröhre und Flachdetektor, eine Kombination für die 3D-CT? T2 - DGZfP-Jahrestagung 2003: Zerstörungsfreie Materialprüfung - ZfP in Anwendung, Entwicklung und Forschung T2 - DGZfP-Jahrestagung 2003: Zerstörungsfreie Materialprüfung - ZfP in Anwendung, Entwicklung und Forschung CY - Mainz, Germany DA - 2003-05-26 PY - 2003 AN - OPUS4-3805 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -