TY - JOUR A1 - Schürmann, Robin A1 - Tsering, Thupten A1 - Tanzer, Katrin A1 - Denifl, Stephan A1 - Kumar, S.V.K. A1 - Bald, Ilko T1 - Resonante Bildung von Strangbrüchen in sensibilisierten Oligonukleotiden induziert durch niederenergetische Elektronen (0.5–9.0 eV) JF - Angewandte Chemie N2 - In der Krebs-Strahlentherapie werden halogenierte Nukleinbasen als Radiosensibilisatoren eingesetzt, um die Reaktivität der DNA gegenüber niederenergetischen Elektro- nen (NEEs) zu erhöhen. NEEs erzeugen DNA-Strangbrüche bei spezifischen Energien (Resonanzen) durch dissoziative Elektronenanlagerung (DEA). Obwohl halogenierte Nukle- inbasen intensive DEA-Resonanzen bei verschiedenen Elek-tronenenergien in der Gasphase aufweisen, kann der Einfluss der halogenierten Nukleinbasen auf tatsächliche DNA-Strangbrüche grundsätzlich nur schwer über den Energiebereich, in dem DEA stattfindet (< 12 eV), untersucht werden. Mithilfe von DNA-Origami-Nanostrukturen haben wir die Energieabhängigkeit der Wirkungsquerschnitte für DNA-Strangbrüche von Oligonukleotiden bestimmt, die mit 8- Bromadenin (8BrA) modifiziert wurden. Diese Ergebnisse wurden mit DEA-Messungen an isoliertem 8BrA in der Gas-phase verglichen. Entgegen der Erwartungen wird der Großteil der Strangbrüche durch Resonanzen um 7 eV hervorgerufen, wohingegen der Einfluss von Resonanzen bei sehr niedrigen Energien (< 2eV) auf die Strangbrüche gering ist. KW - DNA Schäden KW - Niederenergetische Elektronen KW - DNA Nanotechnologie KW - Dissoziative Elektronen Anlagerung PY - 2017 DO - https://doi.org/10.1002/ange.201705504 SN - 1521-3757 SN - 0044-8249 VL - 129 IS - 36 SP - 11094 EP - 11098 PB - Wiley AN - OPUS4-41851 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -