TY - GEN A1 - Hahn, Oliver A1 - Merchel, Silke A1 - Reiche, I. A1 - Simon, O. ED - Ketelsen, T. T1 - Zeichenmaterialien des 15. Jahrhunderts T2 - Das Geheimnis des Jan van Eyck KW - Zerstörungsfreie Materialcharakterisierung KW - RFA KW - VIS-Spektroskopie KW - IR-Reflektographie KW - Archäometrie PY - 2005 SN - 3-422-06566-0 SP - 228 EP - 232 PB - Dt. Kunstverl. CY - München AN - OPUS4-7603 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -