TY - CONF A1 - Maiwald, Michael A1 - Kneipp, Janina T1 - IR-Aktivitäten an der BAM - Anwendungen für die Prozessanalytik T2 - Fokusseminar "Infrarot: Quellen, Detekoren, Anwendungen" OpTecBB Berlin T2 - Fokusseminar "Infrarot: Quellen, Detekoren, Anwendungen" OpTecBB Berlin CY - Berlin, Germany DA - 2008-09-25 PY - 2008 AN - OPUS4-18506 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -