TY - JOUR A1 - Knapp, Jürgen T1 - Neuartiger optischer Dehnungsaufnehmer mit faseroptischen Sensor-Arrays JF - VDI-Berichte PY - 1985 SN - 0083-5560 VL - 552 SP - 241 EP - 252 PB - VDI-Verl. CY - Düsseldorf AN - OPUS4-34195 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -