TY - CONF A1 - Kohlhoff, Harald A1 - Subaric-Leitis, Andreas A1 - Ullner, Christian T1 - Referenzmesseinrichtung für die instrumentierte Eindringprüfung im Makrobereich T2 - SENSOR + TEST 2008 T2 - SENSOR + TEST 2008 CY - Nuremberg, Germany DA - 2008-05-06 PY - 2008 AN - OPUS4-18451 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -