TY - CONF A1 - Schulz, Eckhard A1 - Sturm, Heinz A1 - Munz, Martin T1 - Oberflächencharakterisierung von Fasern und Interphasen mittels SFM-Techniken T2 - Raster-Sonden-Mikroskopien und organische Materialien VI T2 - Raster-Sonden-Mikroskopien und organische Materialien VI CY - Tübingen, Germany DA - 1997-10-09 PY - 1997 AN - OPUS4-6443 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -