TY - CONF A1 - Traub, Heike A1 - Czerwensky, Michael A1 - Matschat, Ralf A1 - Kipphardt, Heinrich A1 - Panne, Ulrich T1 - Beitrag der LA-ICP-MS zur Charakterisierung von Kupfer-Referenzmaterialien T2 - 21. ICP-MS Anwendertreffen und 8. Symposium über Massenspektrometrische Verfahren der Elementspurenanalyse T2 - 21. ICP-MS Anwendertreffen und 8. Symposium über Massenspektrometrische Verfahren der Elementspurenanalyse CY - Dresden, Germany DA - 2008-09-17 PY - 2008 AN - OPUS4-17715 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -