TY - CONF A1 - Sturm, Heinz A1 - Stark, Wolfgang A1 - Schulz, Eckhard T1 - Messung elektrischer Eigenschaften in der Rasterkraftmikroskopie: Leitfähigkeitskontrast und Ladungskontrast T2 - 1. Jenaer Anwendersymposium Rastersondenmikroskopie T2 - 1. Jenaer Anwendersymposium Rastersondenmikroskopie CY - Jena, Germany DA - 1995-11-22 PY - 1995 AN - OPUS4-6390 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -