TY - CONF A1 - Sturm, Heinz T1 - Messungen elektrischer Eigenschaften in der Rasterkraftmikroskopie T2 - Forschungsseminar zur Oberflächenphysik der Lehrstühle: Oberflächenphysik und Atomstoßprozesse und Elektronische Eigenschaften und Supraleitung T2 - Forschungsseminar zur Oberflächenphysik der Lehrstühle: Oberflächenphysik und Atomstoßprozesse und Elektronische Eigenschaften und Supraleitung CY - Berlin, Germany DA - 1997-11-17 PY - 1997 AN - OPUS4-6428 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -