TY - CONF A1 - Sturm, Heinz T1 - Methoden zur Messung elekrischer Eigenschaften in der Rasterkraftmikroskopie T2 - 3. Mikrosymposium: Elektronenmikroskopie in der Materialforschung - Rasterkraftmikroskopie an Polymeren an der Martin-Luther-Universität Halle-Wittenberg T2 - 3. Mikrosymposium: Elektronenmikroskopie in der Materialforschung - Rasterkraftmikroskopie an Polymeren an der Martin-Luther-Universität Halle-Wittenberg CY - Merseburg, Germany DA - 1996-05-31 PY - 1996 AN - OPUS4-6399 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -