TY - JOUR A1 - Sturm, Heinz A1 - Schulz, Eckhard T1 - Rasterkraftmikroskopie mit lokalem Leitfähigkeitskontrast zur Oberflächenanalyse von Kohlefaseroberflächen und plasmapolymerisierten dünnen Schichten JF - Beiträge zur elektronenmikroskopischen Direktabbildung von Oberflächen PY - 1995 SN - 0340-3815 VL - 28 SP - 51 EP - 58 PB - Remy CY - Münster, Westf. AN - OPUS4-6847 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -