TY - CONF A1 - Sturm, Heinz A1 - Schulz, Eckhard T1 - Messung elektrischer Eigenschaften in der Rasterkraftmikroskopie: Leitfähigkeitskontrast auf Kohlefaseroberflächen T2 - Tagung "Raster-Sonden-Mikorskopien und organische Materialien IV" T2 - Tagung "Raster-Sonden-Mikorskopien und organische Materialien IV" CY - Munich, Germany DA - 1995-10-11 PY - 1995 AN - OPUS4-6388 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -