TY - CONF A1 - Munz, Martin A1 - Sturm, Heinz A1 - Schulz, Eckhard T1 - Zuverlässigkeit von Polymer-Werkstoffen - Interphasen nanoskopisch betrachtet T2 - 3. Workshop "Rasterkraftmikroskopie in der Werkstoffwissenschaft" T2 - 3. Workshop "Rasterkraftmikroskopie in der Werkstoffwissenschaft" CY - Berlin, BAM, Deutschland DA - 2002-02-28 PY - 2002 SP - 14 AN - OPUS4-1831 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -