TY - CONF A1 - Sturm, Heinz T1 - Rasterkraft- und elektrische Leitfähigkeitsmikroskopie auf kohlefaserverstärkten Polymersystemen T2 - Workshop "Oberflächencharakterisierung mit Rastersondenmikroskopie" an der Humboldt-Universität T2 - Workshop "Oberflächencharakterisierung mit Rastersondenmikroskopie" an der Humboldt-Universität CY - Berlin, Germany DA - 1994-09-29 PY - 1994 AN - OPUS4-6374 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -