TY - CONF A1 - Sturm, Heinz A1 - Schulz, Eckhard T1 - Rasterkraftmikroskopie mit Leitfähigkeitskontrast zur Oberflächenanalyse von Carbonfaser-Compositen T2 - Tagung "Funktionalisierte dünne organische Schichten und Grenzflächen" T2 - Tagung "Funktionalisierte dünne organische Schichten und Grenzflächen" CY - Potsdam, Germany DA - 1995-05-22 PY - 1995 AN - OPUS4-6384 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -