TY - CONF A1 - Erthner, Thomas A1 - Bertus, Norbert A1 - Dohse, Elmar A1 - Neubauer, Andreas A1 - Pelkner, Matthias A1 - Kreutzbruck, Marc T1 - Miniaturisierte Mehrkanalelektronik für die magnetische Streuflussprüfung T2 - DACH-Jahrestagung 2012 - ZfP in Forschung, Entwicklung und Anwendung (Proceedings) N2 - Hohe Empfindlichkeit und Ortsauflösung sowie eine kurze Prüfzeit sind Anforderungen an ein leistungsfähiges Prüfsystem basierend auf magnetischen ZfP-Verfahren für die Oberflächenprüfung. Dieses soll das sichere Auffinden feinster Risse mit Tiefen von weniger als 50 Mikrometern gewährleisten. Um eine gute Ortsauflösung zu gewährleisten, müssen in der Regel der Defektgröße angepasste Sensoren zum Einsatz kommen. Speziell im Fall von Risslängen kleiner als ein Millimeter sollten die Sonden für die Streuflussprüfung ebenfalls Wirkbreiten kleiner als ein Millimeter aufweisen. Durch die daraus folgenden geringen Spurbreiten ergeben sich allerdings lange Prüfzeiten. Der begrenzten Prüfzeit und präzisionsbedingten mechanischen Grenzen in der Verfahr- Geschwindigkeit einer Sonde kann mit einem Multikanalansatz begegnet werden. Eine hohe Anzahl an Kanälen wiederum führt zu einem Platzproblem in der Prüfsonde, schließlich erfordert die Verstärkung schwacher Signale im eine Reihe von aktiven Bauelementen. Der Schlüssel zur Auflösung dieses Konflikts ist der Einsatz moderner Schaltkreise wie Multiplexer und FPGA. In diesem Beitrag stellen wir am Beispiel eines 48 kanaligen Testaufbaus für die GMR-basierte Streuflussprüfung ein flexibles miniaturisiertes Elektronikkonzept vor. Dabei gehen wir auf die einzelnen Komponenten zur Ansteuerung der Sensoren und zur Signalkonditionierung ein. Wir berichten vom Design, Aufbau und der Charakterisierung des Multikanalmoduls und seiner Erprobung im realen Prüfeinsatz. T2 - DACH-Jahrestagung 2012 CY - Graz, Austria DA - 2012-09-17 KW - GMR KW - Streufluss PY - 2012 UR - http://jt2012.dgzfp.de/Portals/jt2012/BB/p29.pdf SN - 978-3-940283-44-3 IS - DGZfP-BB 136 SP - Poster 29, 1 EP - 7 AN - OPUS4-32698 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -