TY - CONF A1 - Müller, Ralf A1 - Weh, Lothar A1 - Reinsch, Stefan T1 - Oberflächenprofile partiell kristallisierter Silikatgläser T2 - Kurzreferate der 73. Glastechnischen Tagung T2 - 73. Glastechnische Tagung CY - Halle (Saale), Deutschland DA - 1999-05-31 KW - Kristallisation KW - Silikatgläser PY - 1999 SP - 26 EP - 29 CY - Frankfurt/Main AN - OPUS4-819 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -