TY - CONF A1 - Kitze, Jessica A1 - Brackrock, Daniel A1 - Brekow, Gerhard A1 - Prager, Jens A1 - Gaal, Mate A1 - Kreutzbruck, Marc A1 - Szabo, D. A1 - Kuti, K. A1 - Paczolay, G. T1 - SAFT und TOFD - Ein Vergleich im Analyseverhalten von Reflektoren T2 - DGZfP-Jahrestagung 2010 N2 - Mit der Gruppenstrahlertechnik der Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung sind umfangreiche Untersuchungen an einer plattierten Druckbehälter-Testwand durchgeführt worden. In der vorliegenden Testwand mit einer Wanddicke von 149 mm befinden sich künstliche Testreflektoren im Schweißnaht- und Plattierungsbereich, die mit Gruppenstrahler- Prüfköpfen mit unterschiedlichen Frequenzen, Einschallwinkeln und Einschallrichtungen nachgewiesen und in ihrem Anzeigenverhalten analysiert wurden. Zur Rekonstruktion der Reflektoranzeigen wurde ein SAFT - Algorithmus verwendet, der die Variation der Einschallwinkel berücksichtigt. Zum Vergleich sind die Reflektoren auch mit der TOFD - Technik analysiert worden. Ziel der Untersuchungen war der direkte Vergleich der Eignung der SAFT- und TOFDTechnik zur quantitativen Reflektorgrößenbestimmung. T2 - DGZfP-Jahrestagung 2010 CY - Erfurt, Deutschland DA - 2010-05-10 PY - 2010 SN - 978-3-940283-26-9 IS - DGZfP-BB 122 (Mi.2.A.3) SP - 1 EP - 11 CY - Berlin AN - OPUS4-21880 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -