TY - CONF A1 - Schlichting, Joachim A1 - Kervalishvili, Guram N. A1 - Maierhofer, Christiane A1 - Kreutzbruck, Marc T1 - Geometrische Charakterisierung von Fehlstellen mittels lokal angeregter aktiver Thermografie T2 - DGZfP-Jahrestagung 2010 N2 - In diesem Beitrag wird eine Methode zur Charakterisierung von offenen Oberflächenrissen mittels aktiver Thermografie präsentiert. Hierzu wird die Probe ortsfest lokal mit einem Laser erwärmt und die resultierende Oberflächentemperatur mittels Infrarotkamera aufgenommen. Bei einer ungestörten Probe ergibt sich ein rotationssymmetrisches Temperaturprofil. Betrachtet man hingegen einen Bereich mit einem Oberflächenriss, so kommt es durch die Störung des lateralen Wärmetransports zu einer unsymmetrischen Temperaturverteilung. Durch die quantitative Analyse diese Unsymmetrie lassen sich Aussagen über geometrische Parameter des Risses treffen. T2 - DGZfP-Jahrestagung 2010 CY - Erfurt, Deutschland DA - 2010-05-10 PY - 2010 SN - 978-3-940283-26-9 IS - DGZfP-BB 122 (Mi.1.C.2) SP - 1 EP - 8 CY - Berlin AN - OPUS4-21869 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -