TY - CONF A1 - Goebbels, Jürgen A1 - Illerhaus, Bernhard A1 - Onel, Yener A1 - Riesemeier, Heinrich A1 - Weidemann, Gerd T1 - Flaw Types in Metallic Samples Analysed with Computed Tomographie T2 - Symposium "Tomographic Methods in Materials Resarch"; Frühjahrstagung der Deutschen Physikalischen Gesellschaft; Technische Universität T2 - Symposium "Tomographic Methods in Materials Resarch"; Frühjahrstagung der Deutschen Physikalischen Gesellschaft; Technische Universität CY - Berlin, Germany DA - 2005-03-04 PY - 2005 AN - OPUS4-7180 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -