TY - CONF A1 - Ehrig, Karsten A1 - Bartscher, M. A1 - Goebbels, Jürgen A1 - Schulze, M. A1 - Staude, Andreas T1 - Dimensionelles Messen unter Phasenkontrast mit Synchrotron Computertomographie T2 - DGZfP-Jahrestagung 2010 N2 - Phasenkontrastmessungen haben sich als hilfreich bei der Kantenfindung von Strukturen mit nur geringem Absorptionskontrast erwiesen. Solche Messungen können besonders gut mit monochromatischer Röntgenstrahlung hoher räumlicher Kohärenz durchgeführt werden, wie sie bei der Synchrotron- Computertomographie (SY-CT) benutzt wird. Nachteilig wirken sich allerdings die Phasenverschiebung des Synchrotronstrahls über das Strahlprofil und damit die Kantenverbreiterung in den zu untersuchenden Strukturen aus. Daher ist ein dimensionelles Messen mit normalen Rekonstruktionsverfahren nicht möglich. In der vorliegenden Arbeit werden neue Filterverfahren zur Korrektur der Phasenverschiebung unter Beibehaltung des erhöhten Kontrastes bei der Rekonstruktion angewandt, um ausgewählte einkomponentige Referenzobjekte hinsichtlich der dimensionellen Messeigenschaften zu untersuchen. Als Referenz werden rückgeführte Messungen mit taktilen Koordinatenmessmaschinen herangezogen. Die Untersuchungen wurden im freien Strahl durch Variation des Abstandes zwischen Objekt und Detektor am Strahlrohr der BAM am Helmholtz- Zentrum Berlin für Materialien und Energie - Speicherring BESSY II durchgeführt. T2 - DGZfP-Jahrestagung 2010 CY - Erfurt, Deutschland DA - 2010-05-10 PY - 2010 SN - 978-3-940283-26-9 IS - DGZfP-BB 122 (Di.2.A.3) SP - 1 EP - 9 CY - Berlin AN - OPUS4-23208 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -