TY - CONF A1 - Köppe, Enrico A1 - Hofmann, Detlef A1 - Daum, Werner T1 - Absolut messendes EFPI-Messsystem T2 - Sensoren und Messsysteme 2014 - 17. ITG/GMA-Fachtagung N2 - In diesem Paper wird ein absolut messendes faseroptisches Messsystem zur Bestimmung des Gap-Abstandes von niedrig reflektierenden losen und festen extrinsischer Fabry-Pérot Interferometer (EFPI) vorgestellt. Die häufigste Methode zur Bestimmung von Dehnungen oder Bewegungen durch EFPI-Sensoren ist eine kontinuierliche relative Ermittlung einer Veränderung mit einer nachträglichen Auswertung. Unterbrechungen in der Datenerfassung oder Fehler bei der Interferenzstreifen-Auswertung führen zu einer nicht abschätzbaren Messunsicherheit. Damit war es bis dato nicht möglich, eine absolute Veränderung von eingesetzten EFPI-Sensoren zu bestimmen. Mit dem an der BAM entwickelten Verfahren, ist dies jetzt möglich, die absolute Veränderung zu bestimmen. Dieses System namens 'EFPI-Scan' wird in dem Papier dargestellt werden. PB - VDE Verlag GmbH T2 - Sensoren und Messsysteme 2014 - 17. ITG/GMA-Fachtagung CY - Nürnberg, Germany DA - 03.06.2014 PY - 2014 UR - https://opus4.kobv.de/opus4-bam/frontdoor/index/index/docId/32644 AN - OPUS4-32644 SN - 978-3-8007-3622-5 SN - 0932-6022 N1 - Serientitel: ITG-Fachbericht – Series title: ITG-Fachbericht VL - 250 SP - P16.2, 1 EP - 3 AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany