TY - CONF A1 - Banach, Ulrich A1 - Noske, Reinhard A1 - Krüger, U. T1 - Von Einzelsensor zum Sensor-Array T2 - 6. Dresdner Sensor-Symposium T2 - 6. Dresdner Sensor-Symposium CY - Dresden, Germany DA - 2003-12-08 PY - 2003 AN - OPUS4-4998 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -