TY - CONF A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan T1 - Charakterisierung von Nanopartikeln mit hoch-sensitiven EDX-Detektoren am REM T2 - Bruker Seminartage zur Mikroanalyse 2015 T2 - Bruker Seminartage zur Mikroanalyse 2015 CY - Berlin DA - 2015-10-14 PY - 2015 AN - OPUS4-34680 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -