TY - JOUR A1 - Hodoroaba, Vasile-Dan A1 - Wirth, Thomas A1 - Unger, Wolfgang T1 - Schichtanalyse mit der optischen Glimmentladungsspektroskopie (GD-OES) JF - Technische Rundschau : TR PY - 2000 SN - 1662-3096 SN - 0040-1498 SN - 0040-148X SN - 1023-0823 PB - Binkert Medien CY - Laufenburg AN - OPUS4-1055 LA - deu AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -