TY - CONF A1 - Rücker, Werner T1 - Monitoring Systems - concept and sensors T2 - 3. Tagung EMAG, BAM Berlin T2 - 3. Tagung EMAG, BAM Berlin CY - Berlin, Germany DA - 1993-05-11 PY - 1993 AN - OPUS4-6722 LA - eng AD - Bundesanstalt fuer Materialforschung und -pruefung (BAM), Berlin, Germany ER -