Deutsch
Open Access
Home
Search
Browse
Publish
FAQ
Schließen
Author(s)
All words
At least one word
None of the words
Title
All words
At least one word
None of the words
Additional Person(s)
All words
At least one word
None of the words
Referee(s)
All words
At least one word
None of the words
Abstract
All words
At least one word
None of the words
Fulltext
All words
None of the words
Refine
Author
Reichling, M.
(4)
Zöllner, Marvin Hartwig
(4)
Schroeder, Thomas
(3)
Wilkens, Henrik
(3)
Wollschläger, Joachim
(3)
Bäumer, Marcus
(2)
Oelke, R.
(2)
Olbrich, R.
(2)
Dabrowski, Jarek Marek
(1)
Derks, C.
(1)
+ more
Year of publication
2014
(1)
2013
(1)
2012
(2)
Document Type
Scientific journal article peer-reviewed
(4)
Language
English
(4)
Institute
FG Halbleitermaterialien
(4)
BTU
an der BTU erstellt / created at BTU
(4)
4
search hits
1
to
4
Export
BibTeX
CSV
RIS
XML
20
10
20
50
100
Sort by
Year
Year
Title
Title
Author
Author
Morphology and nanostructure of CeO2(111) surfaces of single crystals and of Si(111) supported ceria films,
(2012)
Pieper, H. H.
;
Derks, C.
;
Zöllner, Marvin Hartwig
;
Olbrich, R.
;
Troeger, L.
;
Schroeder, Thomas
;
Neumann, M.
;
Reichling, M.
On the unusual stacking behavior of twin-free, type B oriented CeO2(111) films on hexagonal Pr2O3(0001) / Si(111) systems
(2012)
Zöllner, Marvin Hartwig
;
Dabrowski, Jarek Marek
;
Zaumseil, Peter
;
Giussani, A.
;
Schubert, Markus Andreas
;
Lupina, Grzegorz
;
Wilkens, Henrik
;
Wollschläger, Joachim
;
Bäumer, Marcus
;
Reichling, M.
;
Schröder, Thomas
A well-structured metastable ceria surface
(2014)
Olbrich, R.
;
Wilkens, Henrik
;
Oelke, R.
;
Wollschläger, Joachim
;
Zöllner, Marvin Hartwig
;
Schroeder, Thomas
;
Reichling, M.
Structural transitions of epitaxial ceria films on Si(111)
(2013)
Wilkens, Henrik
;
Schuckmann, O.
;
Oelke, R.
;
Gevers, Sebastian
;
Reichling, M.
;
Schaefer, A.
;
Bäumer, Marcus
;
Zöllner, Marvin Hartwig
;
Niu, Gang
;
Schroeder, Thomas
;
Wollschläger, Joachim
1
to
4
Einverstanden ✔
Diese Webseite verwendet technisch erforderliche Session-Cookies. Durch die weitere Nutzung der Webseite stimmen Sie diesem zu.
Unsere Datenschutzerklärung finden Sie hier.