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Author
Gätzschmann, Uwe
(3)
Vierhaus, Heinrich Theodor
(3)
Galke, Christian
(2)
Kaibel, M.
(1)
Year of publication
2006
(1)
2005
(1)
2004
(1)
Document Type
Conference Proceeding
(3)
Language
German
(2)
English
(1)
Keywords
ICs
(1)
SoCs
(1)
Test
(1)
Test Compression
(1)
Institute
FG Technische Informatik
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Ein flexibles Verfahren zur Testdaten-Kompaktierung und -Dekompaktierung für den Scan-Test
(2004)
Gätzschmann, Uwe
;
Vierhaus, Heinrich Theodor
Ein flexibler Ansatz für den Scan-Test von SoCs
(2005)
Gätzschmann, Uwe
;
Galke, Christian
;
Vierhaus, Heinrich Theodor
;
Kaibel, M.
Scan-Based SoC Test Using Space / Time Pattern Compaction Schemes
(2006)
Galke, Christian
;
Gätzschmann, Uwe
;
Vierhaus, Heinrich Theodor
Konferenzbeitrag 9. EuroMicro-Conference on Digital System Design (DSD 2006),Sept. 2006, Dubrovnik
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