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Impact of Intercell and Intracell Variability on Forming and Switching Parameters in RRAM Arrays

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Author: Alessandro Grossi, Damian Walczyk, Cristian Zambelli, Enrique Miranda, Piero Olivo, V. Stikanov, A. Feriani, J. Sune, Gunther Schoof, Rolf Kraemer, Bernd Tillack, A. Fox, Thomas Schroeder, Christian Walczyk
DOI:https://doi.org/10.1109/TED.2015.2442412
ISSN:0018-9383
Title of the source (English):IEEE Transaction on Electronic Devices
Document Type:Scientific journal article peer-reviewed
Language:English
Year of publication:2015
Volume/Year:62
Issue number:8
First Page:2502
Last Page:2509
Faculty/Chair:Fakultät 1 MINT - Mathematik, Informatik, Physik, Elektro- und Informationstechnik / FG Halbleitermaterialien
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